-

JEOL: release van scanning-elektronenmicroscopen JSM-IT710HR/JSM-IT210

-Verdere ontwikkeling maakt het mogelijk om de observatie en analyse aan het instrument over te laten, waardoor de efficiëntie wordt verbeterd-

original JSM-IT710HR (Photo: Business Wire)

JSM-IT710HR (Photo: Business Wire)

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKIO:6951) (President en CEO Izumi Oi) maakt de release bekend van de scanning-elektronenmicroscopen JSM-IT710HR/JSM-IT210 op 23 juli 2023

Scanning-elektronenmicroscopen worden gebruikt voor een breed scala aan doeleinden, van standaard onderzoeksactiviteiten, productielijnen en kwaliteitsborging tot onderzoek en ontwikkeling. De toepassingsgebieden omvatten metalen, halfgeleiders, batterijen, biotechnologie en polymeren. Bovendien is er grote behoefte aan eenvoudigere bevestiging van samenstellingsinformatie, zonder zelf op de hoogte te hoeven zijn van observatie of analyse.

De JSM-IT710HR heeft een elektronenkanon met verbeterde stabiliteit en de JSM-IT210 maakt gebruik van een 5-assig motorgestuurd monsterpodium.

Deze bekendmaking is officieel geldend in de originele brontaal. Vertalingen zijn slechts als leeshulp bedoeld en moeten worden vergeleken met de tekst in de brontaal, die als enige rechtsgeldig is.

Contacts

JEOL Ltd.
Science and Measurement Instruments Sales Division
TEL: +81-3-6262-3575
https://www.jeol.com/contacts/products.php

Industry:

JEOL Ltd.

TOKYO:6951
Release Versions
EnglishSpanishPortugueseGermanFrenchItalian (Summary)Dutch (Summary)Chinese TraditionalChinese Simplified

Contacts

JEOL Ltd.
Science and Measurement Instruments Sales Division
TEL: +81-3-6262-3575
https://www.jeol.com/contacts/products.php

More News From JEOL Ltd.

Samenvatting: JEOL: Lancering van HAXIS: de nieuwe rasterelektronenmicroscoop met ionenpolijstsysteem onder een kleine hoek

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. kondigt de ontwikkeling aan van HAXIS, zijn nieuwe rasterelektronenmicroscoop met ionenpolijstsysteem onder een kleine hoek, en start de verkoop vandaag op 5 oktober 2026. HAXIS rasterelektronenmicroscoop met ionenpolijstsysteem onder een kleine hoek Achtergrond van de ontwikkeling Naarmate de structuren van geavanceerde halfgeleidercomponenten steeds kleiner en complexer worden, is het moeilijker geworden om met behulp van nanomanipulatoren contact te maken me...

Samenvatting: JEOL: lancering van de nieuwe benchtop rasterelektronenmicroscoop “JCM-7000Plus NeoScope™”

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (voorzitter & CEO: Izumi Oi) heeft de benchtop REM (rasterelektronenmicroscoop) “JCM-7000Plus” ontwikkeld en start de verkoop op 1 september 2026. [Ontwikkelingsachtergrond] Benchtop rasterelektronenmicroscopen worden steeds meer ingezet in domeinen zoals elektrische apparatuur en elektronica, de automobielindustrie en machineparken, staal en metalen, chemische industrie en farmaceutica. Ze worden niet alleen voor R&D gebruikt, maar ook in productiegere...

Samenvatting: JEOL: lancering van de verkoop van het SEM-lasersysteem “LazEdge”

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (voorzitter & CEO: Izumi Oi) heeft de “LazEdge” ontwikkeld, een SEM-systeem uitgerust met een laserverwerkingssysteem, en start met de verkoop op 25 mei 2026. Apparatuur voor doorsnedepreparatie van dwarsdoorsneden zoals het FIB-systeem (Focused Ion Beam-systeem) worden in de wetenschappen en de technologiesector alom gebruikt in onderzoeksinstellingen, universiteiten en industrieën. Sinds enkele jaren is de vraag gestegen naar een systeem dat grote gebiede...
Back to Newsroom