-

JEOL: lancering van de verkoop van het SEM-lasersysteem “LazEdge”

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (voorzitter & CEO: Izumi Oi) heeft de “LazEdge” ontwikkeld, een SEM-systeem uitgerust met een laserverwerkingssysteem, en start met de verkoop op 25 mei 2026.
Apparatuur voor doorsnedepreparatie van dwarsdoorsneden zoals het FIB-systeem (Focused Ion Beam-systeem) worden in de wetenschappen en de technologiesector alom gebruikt in onderzoeksinstellingen, universiteiten en industrieën. Sinds enkele jaren is de vraag gestegen naar een systeem dat grote gebieden aan een hoge snelheid kan verwerken, terwijl een hoge kwaliteit van het verwerkte oppervlak wordt bereikt. “LazEdge” is een instrument dat JEOL’s SEM integreert met de lasertechnologie van Hamamatsu Photonics K.K., en maakt laserverwerking in de bemonsteringskamer van de elektronenmicroscoop mogelijk.

Deze bekendmaking is officieel geldend in de originele brontaal. Vertalingen zijn slechts als leeshulp bedoeld en moeten worden vergeleken met de tekst in de brontaal, die als enige rechtsgeldig is.

More News From JEOL Ltd.

Samenvatting: JEOL: Lancering van HAXIS: de nieuwe rasterelektronenmicroscoop met ionenpolijstsysteem onder een kleine hoek

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. kondigt de ontwikkeling aan van HAXIS, zijn nieuwe rasterelektronenmicroscoop met ionenpolijstsysteem onder een kleine hoek, en start de verkoop vandaag op 5 oktober 2026. HAXIS rasterelektronenmicroscoop met ionenpolijstsysteem onder een kleine hoek Achtergrond van de ontwikkeling Naarmate de structuren van geavanceerde halfgeleidercomponenten steeds kleiner en complexer worden, is het moeilijker geworden om met behulp van nanomanipulatoren contact te maken me...

Samenvatting: JEOL: lancering van de nieuwe benchtop rasterelektronenmicroscoop “JCM-7000Plus NeoScope™”

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (voorzitter & CEO: Izumi Oi) heeft de benchtop REM (rasterelektronenmicroscoop) “JCM-7000Plus” ontwikkeld en start de verkoop op 1 september 2026. [Ontwikkelingsachtergrond] Benchtop rasterelektronenmicroscopen worden steeds meer ingezet in domeinen zoals elektrische apparatuur en elektronica, de automobielindustrie en machineparken, staal en metalen, chemische industrie en farmaceutica. Ze worden niet alleen voor R&D gebruikt, maar ook in productiegere...

Samenvatting: JEOL: presentatie van nieuwe CROSS SECTION POLISHER™ IB-19540CP / IB-19550CCP

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (President en CEO: Izumi Oi) kondigt de release aan van de nieuwe CROSS SECTION POLISHER™ IB-19540CP / COOLING CROSS SECTION POLISHER™ IB-19550CCP voor elektronenmicroscopen op 4 september 2024. De CROSS SECTION POLISHER™ wordt veel gebruikt op het gebied van elektronische onderdelen, keramiek, biowetenschappen, metaal, batterijen en polymeren. De mechanische uniforme dwarsdoorsnede van hoge kwaliteit kan gemakkelijk worden voorbereid voor complexe...
Back to Newsroom