JEOL: lancering van de nieuwe benchtop rasterelektronenmicroscoop “JCM-7000Plus NeoScope™”

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (voorzitter & CEO: Izumi Oi) heeft de benchtop REM (rasterelektronenmicroscoop) “JCM-7000Plus” ontwikkeld en start de verkoop op 1 september 2026.

[Ontwikkelingsachtergrond]

Benchtop rasterelektronenmicroscopen worden steeds meer ingezet in domeinen zoals elektrische apparatuur en elektronica, de automobielindustrie en machineparken, staal en metalen, chemische industrie en farmaceutica. Ze worden niet alleen voor R&D gebruikt, maar ook in productiegerelateerde toepassingen, zoals kwaliteitscontrole en productinspectie. Verder worden ze toegepast in onderwijsomgevingen op middelbare scholen, hogescholen en universiteiten. In het licht van deze uiteenlopende toepassingen is er steeds meer vraag naar betere operationele efficiëntie, eenvoudigere en meer geautomatiseerde bediening, en betere observatie-, analyse- en meetprestaties.

Deze bekendmaking is officieel geldend in de originele brontaal. Vertalingen zijn slechts als leeshulp bedoeld en moeten worden vergeleken met de tekst in de brontaal, die als enige rechtsgeldig is.