-

JEOL: nieuwe Schottky veldemissie scanning electronen microscoop JSM-IT810 uitgebracht

- Verbeterde operationele efficiëntie van instrumentafstelling tot observatie en analyse met automatiseringstechnologie -

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(President en CEO: Izumi Oi) kondigt de release aan van de nieuwe Schottky veldemissie scanning elektronenmicroscoop JSM-IT810 op 28 juli 2024.
Veldemissie scanning elektronenmicroscopen (Field Emission Scanning Electron Microscopes, FESEM) worden veel gebruikt in wetenschap en technologie, zoals onderzoeksinstituten, universiteiten en de industrie. Er is een groeiende vraag naar een instrument dat eenvoudig, nauwkeurig, snel en efficiënt kan worden gebruikt, van observatie tot analyse.
De JSM-IT810 voegt de "Neo Action" automatische observatie- en analysefunctie en automatische kalibratiefunctie toe aan de JSM-IT800, uitgerust met het next-generation elektronenoptisch besturingssysteem "Neo Engine" en het "SEM Center" voor hoge operabiliteit zoals Zeromag en EDS-integratie. Dit verbetert niet alleen de efficiëntie en productiviteit, maar helpt ook tekorten aan arbeidskrachten op te lossen.

Deze bekendmaking is officieel geldend in de originele brontaal. Vertalingen zijn slechts als leeshulp bedoeld en moeten worden vergeleken met de tekst in de brontaal, die als enige rechtsgeldig is.

Contacts

JEOL Ltd.
Verkoopafdeling wetenschaps- en meetinstrumenten
TEL: +81-3-6262-3567
https://www.jeol.com/contacts/products.php

JEOL Ltd.

TOKYO:6951


Contacts

JEOL Ltd.
Verkoopafdeling wetenschaps- en meetinstrumenten
TEL: +81-3-6262-3567
https://www.jeol.com/contacts/products.php

More News From JEOL Ltd.

Samenvatting: JEOL: presentatie van nieuwe CROSS SECTION POLISHER™ IB-19540CP / IB-19550CCP

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (President en CEO: Izumi Oi) kondigt de release aan van de nieuwe CROSS SECTION POLISHER™ IB-19540CP / COOLING CROSS SECTION POLISHER™ IB-19550CCP voor elektronenmicroscopen op 4 september 2024. De CROSS SECTION POLISHER™ wordt veel gebruikt op het gebied van elektronische onderdelen, keramiek, biowetenschappen, metaal, batterijen en polymeren. De mechanische uniforme dwarsdoorsnede van hoge kwaliteit kan gemakkelijk worden voorbereid voor complexe...

Samenvatting: JEOL: release van scanning-elektronenmicroscopen JSM-IT710HR/JSM-IT210

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKIO:6951) (President en CEO Izumi Oi) maakt de release bekend van de scanning-elektronenmicroscopen JSM-IT710HR/JSM-IT210 op 23 juli 2023 Scanning-elektronenmicroscopen worden gebruikt voor een breed scala aan doeleinden, van standaard onderzoeksactiviteiten, productielijnen en kwaliteitsborging tot onderzoek en ontwikkeling. De toepassingsgebieden omvatten metalen, halfgeleiders, batterijen, biotechnologie en polymeren. Bovendien is er grote behoefte aan ee...

Samenvatting: JEOL: Vrijgave van het cryogene terugwinningssysteem

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (President & CEO Izumi Oi) kondigt aan dat op 14 april 2023 een nieuw cryogeen terugwinningssysteem voor nucleaire magnetische resonantie (NMR) wordt gelanceerd. Dit product is gezamenlijk ontwikkeld door JEOL Ltd., een fabrikant van NMR-instrumenten, Japan Superconductor Technology, Inc. (JASTEC), een fabrikant van supergeleidende magneten, en Ulvac Cryogenics Inc., dat sterk is in cryogene technologieën, door de geavanceerde technologieën van...
Back to Newsroom