JEOL: Lançamento do novo microscópio eletrônico de varredura de bancada “JCM-7000Plus NeoScope™”

TÓQUIO--(BUSINESS WIRE)--A JEOL Ltd. (Presidente e CEO: Izumi Oi) desenvolveu o microscópio eletrônico de varredura de bancada (SEM) “JCM-7000Plus” e iniciará as vendas em 1º de setembro de 2026.

[Contexto do desenvolvimento]

Os microscópios eletrônicos de varredura de bancada vêm sendo cada vez mais utilizados em setores como o elétrico, o eletrônico, o automotivo, o de maquinário, o siderúrgico, o metalúrgico, o químico e o farmacêutico. Esses equipamentos não são empregados apenas em pesquisa e desenvolvimento, mas também em aplicações relacionadas à fabricação, como o controle de qualidade e a inspeção de produtos. Também são adotados em ambientes educacionais, como escolas de ensino fundamental II e médio e universidades. Dada a diversidade de aplicações, há uma demanda crescente por maior eficiência operacional, operação mais simples e automatizada e melhor desempenho na observação, na análise e na medição.

Para atender a essas necessidades, ampliamos a tensão de aterramento (tensão de aceleração) para 20 kV. Com isso, a resolução foi aprimorada para 6 nm, possibilitando a realização de medições com maior ampliação.

Quanto ao software, o novo JCM-7000 Plus mantém a interface gráfica (GUI) simples e intuitiva do modelo atual, incluindo o Zeromag, que possibilita a transição suave da imagem óptica para a observação por microscopia eletrônica de varredura (SEM), e a função Live Analysis, que permite a análise elementar em tempo real durante a observação. O novo modelo também incorpora o recurso de automação aprimorado Neo Action.

Além das três funções “Live” já existentes (Live Analysis, Live Map e Live 3D), foram adicionados dois novos recursos: o Live Particle, que mede automaticamente o tamanho e a contagem de partículas em tempo real durante a observação; e o Live Report, que adquire dados automaticamente e gera relatórios à medida que o campo de visão é movido — um recurso disponível apenas em FE-SEMs de última geração. Esses recursos simplificam tarefas rotineiras, tornando-as mais intuitivas e eficientes e oferecendo suporte significativo aos fluxos de trabalho analíticos dos usuários.

[Principais recursos]

1. Ampliação da tensão de aterrissagem para 20 kV para melhoria da resolução (imagem de elétrons secundários: 6 nm; imagem de elétrons retroespalhados: 8 nm)

2. Detector de elétrons retroespalhados aprimorado para melhor qualidade de imagem

3. A nova função Live Particle mede automaticamente o tamanho e a contagem de partículas, simplificando o fluxo de trabalho

4. O Live Report permite a aquisição de dados e a criação de relatórios enquanto se altera o campo de visão, melhorando a eficiência do trabalho

5. A interface gráfica de usuário (GUI) simples e intuitiva foi mantida, com a adição de funções de automação para uma operação mais intuitiva e fácil

[Meta de vendas]

300 unidades/ano

[Link relacionado]

Informações sobre o produto: SEM de bancada JCM-7000Plus NeoScope™
https://www.jeol.com/products/scientific/sem/jcm-7000plus.php

O texto no idioma original deste anúncio é a versão oficial autorizada. As traduções são fornecidas apenas como uma facilidade e devem se referir ao texto no idioma original, que é a única versão do texto que tem efeito legal.