JEOL : Lancement du nouveau microscope électronique à balayage de paillasse « JCM-7000Plus NeoScope™ »

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (président-directeur général : Izumi Oi) a mis au point le microscope électronique à balayage (SEM) de paillasse « JCM-7000Plus » et en lancera la commercialisation le 1er septembre 2026.

[Contexte de développement]

Les microscopes électroniques à balayage de paillasse sont de plus en plus utilisés dans des domaines tels que l’électricité et l’électronique, l’automobile et la mécanique, la sidérurgie et la métallurgie, ainsi que la chimie et l’industrie pharmaceutique. Ils sont utilisés non seulement dans la recherche et le développement, mais aussi dans des applications liées à la fabrication, telles que le contrôle qualité et l’inspection des produits. De plus, ils sont adoptés dans les établissements d’enseignement, aussi bien dans les collèges et lycées que dans les universités. Compte tenu de ces applications variées, on observe une demande croissante pour une efficacité opérationnelle améliorée, un fonctionnement plus simple et plus automatisé, ainsi que des performances accrues en matière d’observation, d’analyse et de mesure.

Pour répondre à ces besoins, nous avons porté la tension d’arrivée (tension d’accélération) à 20 kV. Cela a permis d’améliorer la résolution à 6 nm, autorisant ainsi des mesures à un grossissement plus élevé.

Côté logiciel, le nouveau JCM-7000Plus conserve l’interface graphique simple et conviviale du JCM-7000 actuel, notamment la fonction Zeromag, qui permet une transition fluide de l’imagerie optique à l’observation au SEM, et la fonction Live Analysis, qui permet une analyse élémentaire en temps réel pendant l’observation. Il intègre également la fonctionnalité d’automatisation améliorée Neo Action.

Outre les trois fonctions Live existantes (Live Analysis, Live Map et Live 3D), nous avons ajouté deux nouvelles fonctionnalités : Live Particle, qui mesure automatiquement la taille et le nombre de particules en temps réel pendant l’observation, et Live Report, qui acquiert automatiquement les données et génère des rapports tout en déplaçant le champ de vision, une fonctionnalité disponible sur les FE-SEM haut de gamme. Ces fonctionnalités simplifient les tâches courantes, les rendant plus intuitives et plus efficaces, tout en facilitant considérablement les flux de travail analytiques des utilisateurs.

[Caractéristiques principales]

1. Augmentation de la tension d’impact à 20 kV pour une meilleure résolution (image par électrons secondaires : 6 nm, image par électrons rétrodiffusés : 8 nm)

2. Détecteur d’électrons rétrodiffusés amélioré pour une meilleure qualité d’image

3. La nouvelle fonction Live Particle mesure automatiquement la taille et le nombre de particules, simplifiant ainsi le flux de travail

4. Live Report permet l’acquisition de données et la création de rapports tout en déplaçant le champ de vision, améliorant ainsi l’efficacité du travail

5. Interface graphique simple et conviviale conservée, avec des fonctions d’automatisation supplémentaires pour une utilisation plus intuitive et plus facile

[Objectif de vente]

300 unités/an

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Informations sur le produit : SEM de paillasse JCM-7000Plus NeoScope™
https://www.jeol.com/products/scientific/sem/jcm-7000plus.php

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