JEOL: Marktauftritt der Rasterelektronenmikroskope JSM-IT710HR/JSM-IT210

-Weiterentwicklung macht es möglich, Betrachtung und Analyse dem Instrument zu überlassen, was die Effizienz verbessert-

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKIO:6951) (President & CEO Izumi Oi) kündigt den Marktauftritt der Rasterelektronenmikroskopmodelle JSM-IT710HR/JSM-IT210 für den 23. Juli 2023 an.

Rasterelektronenmikroskope (SEM) werden für vielfältige Zwecke eingesetzt, von Grundlagenforschung, Produktionslinien und Qualitätssicherung bis hin zu Forschung und Entwicklung. Ihr Einsatzgebiet umfasst Metalle, Halbleiter, Batterien, Biotechnologie und Polymere. Der Bedarf an problemloser Bestätigung von Zusammensetzungsdaten steigt zunehmend an, und zwar nicht nur für Betrachtungs-, sondern auch für Analysenzwecke.

Das Modell JSM-IT710HR bietet verbesserte Stabilität der Elektronenkanone, während das JSM-IT210 einen Objekttisch mit 5-Achsen-Motorsteuerung einsetzt. Beide Modelle verfügen über fortschrittlichere automatische Messfunktionen für Betrachtung und Analyse sowie erheblich verbesserte umfassende Vorteile des SEM. Die Modelle erfüllen jüngste Marktanforderungen an automatische Messungen und machen die Durchführung von Routineaufgaben effizienter.

Hauptmerkmale

1. „Simple SEM“ automatisiert die einfache Aufnahme von SEM-Bildern und EDS-Analysen

Die Funktion „Simple SEM“ ermöglicht die Wahl der Aufnahmebedingungen und des Sichtfelds für das SEM-Bild, woraufhin die SEM-Abbildung und die EDS-Analyse (energiedispersive Röntgenanalyse) automatisch erfolgen. Dies erhöht die Effizienz bei Routineaufgaben, einschließlich Analysen.

2. „Live3D“ für sofortige Erstellung von 3D-Aufnahmen

3D-Aufnahmen können sofort erstellt werden, während die SEM-Betrachtung durchgeführt wird, um Informationen über Ungleichmäßigkeiten und Tiefe zu erhalten.

3. „Stage Navigation System LS“ ermöglicht Aufnahme der optischen Abbildung eines Bereichs, der fünfmal so groß ist wie bei herkömmlichen Systemen.

Das Stage Navigation System LS kann optische Aufnahmen eines Bereichs machen, der fünfmal so groß ist wie bei herkömmlichen Systemen (Durchmesser ca. 159 mm). Diese Funktion ermöglicht eine optische Abbildung der Betrachtungsprobe und den Übergang zum gewünschten Betrachtungsfeld durch einfaches Klicken auf das optische Bild.

4. „Low-vacuum Hybrid Secondary Electron Detector (LHSED)“ ergibt verbesserte topografische Informationen, selbst bei einem Niedrig-Vakuum.

Dieser Detektor erfasst elektronische und photonische Signale und stellt eine Abbildung mit hohem S/N und verbesserten topografischen Informationen bereit, selbst bei einem Niedrig-Vakuum.

5. Objekttisch mit 5-Achsen-Motorsteuerung

Der Objekttisch mit 5-Achsen-Motorsteuerung wird standardmäßig eingesetzt, was die SEM-Bilderstellung ungleichmäßiger Proben und die EDS-Analyse erleichtert.

6. Verbesserte Stabilität der Elektronenkanone (JSM-IT710HR)

Die Stabilität des Elektronenstrahls wird weiter verbessert und ermöglicht den automatischen und kontinuierlichen Betrieb über längere Zeit mit einem Probenhalter, der mehrere Proben gleichzeitig laden kann.

Zielsetzung für jährliche Absatzzahlen

JSM-IT710HR: 150 Stück/Jahr
JSM-IT210: 250 Stück/Jahr

JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokio, 196-8558, Japan
Izumi Oi, President & CEO
(Börsenkürzel: 6951, Tokyo Stock Exchange Prime Market)
www.jeol.com

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