JEOL lança microscópio eletrônico de varredura JSM-IT710HR/JSM-IT210

-Esta evolução vai permitir deixar a observação e a análise para os instrumentos, melhorando a eficiência-

TÓQUIO (Japão)--(BUSINESS WIRE)--A JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (presidente e CEO, Izumi Oi) anunciou o lançamento, marcado para 23 de julho de 2023, do microscópio eletrônico de varredura JSM-IT710HR/JSM-IT210.

Os microscópios eletrônicos de varredura (MEV) são usados para diversos propósitos – desde pesquisas básicas, linhas de produção e garantia de qualidade até pesquisa e desenvolvimento – e seus campos de aplicação incluem metais, semicondutores, baterias, biotecnologia e polímeros. Há uma necessidade cada vez maior da confirmação mais fácil dos dados composicionais, levando em conta não apenas a observação, mas também a análise.

O JSM-IT710HR melhorou a estabilidade do canhão de elétrons, enquanto o JSM-IT210 emprega estágio de amostra de controle com acionamento por motor de 5 eixos. Ambos os modelos aperfeiçoaram as funções de medição automática para observação e análise e melhoraram significativamente os pontos fortes do MEV. Esses modelos atenderão às necessidades atuais do mercado de medição automática e contribuirão para aumentar a eficiência nos trabalhos de rotina.

Principais características

1. “Simple SEM” automatiza a aquisição de imagem do MEV e a análise da EDS

A função Simple SEM permite ao usuário selecionar as condições de aquisição e o campo de visão para a imagem do MEV e, em seguida, a imagem do MEV e a análise da EDS (espectroscopia de raios X por energia dispersiva) são adquiridas automaticamente. Isso contribuirá para aumentar a eficiência nos trabalhos de rotina, incluindo as análises.

2. “Live3D” cria imagens 3D no ato

As imagens 3D podem ser criadas enquanto a observação do MEV está sendo realizada, obtendo assim informações de irregularidade e profundidade.

3. “Stage Navigation System LS” permite adquirir uma imagem óptica de uma área cinco vezes maior que a dos sistemas convencionais

O Stage Navigation System LS pode adquirir uma imagem óptica de uma área cinco vezes maior que a dos sistemas convencionais (diâmetro aprox. 159 mm). Esta função permite ao usuário adquirir uma imagem óptica da amostra de observação e passar ao campo de observação desejado simplesmente clicando na imagem óptica.

4. “Low-vacuum Hybrid Secondary Electron Detector (LHSED)” adquire informações topográficas melhoradas mesmo sob baixo vácuo

Este detector coleta sinais de elétrons e fótons, fornecendo uma imagem com alto S/N e informações topográficas melhoradas, mesmo sob baixo vácuo.

5. Estágio de amostra de controle com acionamento por motor de 5 eixos

O estágio de amostra de controle com motor de 5 eixos é empregado como padrão, tornando mais conveniente realizar aquisição de imagem do MEV de amostras irregulares e a análise da EDS.

6. Melhor estabilidade do canhão de elétrons (JSM-IT710HR)

A estabilidade do feixe de elétrons foi melhorada, tornando possível a operação automática e contínua por um longo período de tempo, usando um porta amostras capaz de carregar várias amostras de uma só vez.

Meta anual de vendas unitárias

JSM-IT710HR: 150 unidades/ano
JSM-IT210: 250 unidades/ano

JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tóquio, 196-8558, Japão
Izumi Oi, presidente e CEO
(código das ações: 6951, Mercado principal da Bolsa de Valores de Tóquio)
www.jeol.com

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