JEOL: release van een nieuwe Schottky-veldemissie-scanelektronenmicroscoop JSM-IT800

－FE-SEM met Intelligence Technology (IT) Platform－

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO: 6951) (President & COO Izumi Oi) kondigt de release aan van een nieuwe Schottky-veldemissie-scanning-elektronenmicroscoop, JSM-IT800 in mei 2020.

Ontwikkeling achtergrond

Scanning-elektronenmicroscopen (SEM’s) worden op verschillende gebieden gebruikt, zoals nanotechnologie, metalen, halfgeleiders, keramiek, geneeskunde en biologie. Aangezien SEM-toepassingen zich uitbreiden van onderzoek en ontwikkeling tot kwaliteitscontrole en productinspectie op productielocaties, hebben SEM-gebruikers behoefte aan snellere hoogwaardige data-acquisitie en eenvoudige bevestiging van de compositie-informatie met een naadloze werking.

Deze bekendmaking is officieel geldend in de originele brontaal. Vertalingen zijn slechts als leeshulp bedoeld en moeten worden vergeleken met de tekst in de brontaal, die als enige rechtsgeldig is.