JEOL: lanciato il nuovo microscopio elettronico a scansione e emissione di campo Schottky JSM-IT800

－Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM) con piattaforma a tecnologia intelligente (Intelligence Technology, IT)－

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (Presidente e direttore operativo Izumi Oi) annuncia il lancio nel maggio 2020 del nuovo microscopio elettronico a scansione a emissione di campo Schottky, JSM-IT800.

Scenario dello sviluppo

I microscopi elettronici a scansione (scanning electron microscope, SEM) vengono usati in vari campi tra cui nanotecnologia, metalli, semiconduttori, ceramiche, medicina e biologia. Poiché le applicazioni SEM si stanno estendendo dalla ricerca e sviluppo al controllo di qualità e all’ispezione dei prodotti negli impianti di produzione, gli utilizzatori di SEM necessitano di processi di acquisizione di dati di alta qualità più rapidi e di una semplice conferma di informazioni composizionali con attività integrate.

Per soddisfare queste esigenze, il microscopio JSM-IT800 con piattaforma a tecnologia intelligente (Intelligence Technology, IT) incorpora la nostra pistola elettronica a emissione di campo Schottky Plus, integrata nell’ottica, per la mappatura essenziale rapida e l’imaging ad alta risoluzione, unitamente a un innovativo sistema di controllo ottico degli elettroni “Neo Engine” e a un “Centro SEM” con un’interfaccia grafica utente (graphic user interface, GUI) ottimale per la piena integrazione di uno spettrometro a raggi x a dispersione di energia (energy dispersive spectrometer, EDS) JEOL.

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