-

日本電子株式會社推出新型蕭特基場發射掃描電子顯微鏡JSM-IT800

-具有智慧科技(IT)平臺的場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)

東京--(BUSINESS WIRE)--(美國商業資訊)-- (美國商業資訊)--日本電子株式會社(JEOL Ltd., TOKYO:6951)(總裁兼營運長:Izumi Oi)宣佈於2020年5月推出新型蕭特基場發射掃描電子顯微鏡JSM-IT800。

開發背景

掃描電子顯微鏡(SEM)應用於各種領域,例如奈米科技、金屬、半導體、陶瓷、醫學和生物學。隨著SEM應用從研發擴展到生產現場的品質管制和產品檢驗,SEM使用者需要更快的優質資料擷取以及簡單的組成資訊確認和無縫操作。

為了符合這些需求,帶有智慧科技(IT)平臺的JSM-IT800整合了用於從高解析度影像到快速元素映射的浸沒式(In-lens)蕭特基Plus場發射電子槍、創新的電子光學控制系統“Neo Engine”,以及可與JEOL能量色散X射線光譜儀(EDS) 完全整合的無縫GUI“SEM Center”。JSM-IT800提供兩個版本,分別配備不同的物鏡:用於通用SEM的混合透鏡(HL)和用於增強解析度觀察和各種分析的超級混合透鏡(SHL)。

此外,SHL版本還配有新的高位混合檢測器(UHD),可實現更高的訊噪比影像。

JSM-IT800還提供新的閃爍體背散射電子檢測器(SBED)和多功能背散射電子檢測器(VBED)。

特性

1. 浸沒式蕭特基Plus場發射電子槍

電子槍與低像差聚光透鏡的進一步整合提供更高的亮度。在低加速電壓下(5 kV時為100 nA)具有足夠的探頭電流。獨特的浸沒式蕭特基Plus系統可實現從高解析度影像到快速元素映射、電子背散射衍射(EBSD)分析以及軟X射線發射光譜(SXES)的各種應用,而無需更改透鏡條件。

2. Neo Engine(新型電子光學引擎)

Neo Engine是累積了JEOL多年核心技術的尖端電子光學系統。即使更改觀察或分析條件,用戶仍可執行穩定觀察。其自動化功能的高度可操作性得到進一步升級。

3. SEM Center / EDS整合

GUI “SEM Center”和JEOL EDS的完全整合可提供無縫、直覺式的操作。JSM-IT800可以添加選擇性軟體附加元件予以升級,例如輔助新手用戶的SMILENAVI,以及用於獲得更高品質即時影像的LIVE-AI濾鏡(Live Image Visual Enhancer – AI)。

4. 混合鏡頭(HL)版本和超級混合鏡頭(SHL)版本

以靜電場和電磁場透鏡的組合為基礎,JSM-IT800提供兩種類型的物鏡以符合用戶的各種需求,可獲得高空間解析度影像,和從磁性材料到絕緣體的各種樣品分析功能。

5. 高位混合檢測器(UHD)

SHL版本的物鏡中內建的UHD可大幅提高檢測效率,能獲得具有更高訊噪比的影像。

6. 新型背散射電子檢測器

閃爍體背散射電子檢測器(SBED,選擇性)具有高回應度,適合在低加速電壓下獲取與材料形成對比的影像。具有分段檢測器元件設計的多功能背散射電子檢測器(VBED,選擇性)允許使用者選擇配置單個段或使用預先程式設計的檢測器設定來獲取具有三維、局部或成分資訊的影像。

銷售目標

1) JSM-IT800 SHL版本:90台/年
2) JSM-IT800 HL版本:50台/年

日本電子株式會社(JEOL Ltd.)
日本東京都昭島市武藏野3丁目1番2號,郵遞區號:196-8558
總裁兼營運長:Izumi Oi
(股票代碼:6951,東京證券交易所第一部)
www.jeol.com

免責聲明:本公告之原文版本乃官方授權版本。譯文僅供方便瞭解之用,煩請參照原文,原文版本乃唯一具法律效力之版本。

Contacts

日本電子株式會社(JEOL Ltd.)
科學和測量儀器銷售部
Kazunori Kitazumi
+81-3-6262-3567
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

JEOL Ltd.

TOKYO:6951


Contacts

日本電子株式會社(JEOL Ltd.)
科學和測量儀器銷售部
Kazunori Kitazumi
+81-3-6262-3567
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

More News From JEOL Ltd.

JEOL:新CROSS SECTION POLISHER™ IB-19540CP / IB-19550CCP發表

東京--(BUSINESS WIRE)--(美國商業資訊)-- JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(總裁兼執行長:Izumi Oi)宣布於2024年9月4日推出用於電子顯微鏡的新型CROSS SECTION POLISHER™(截面拋光機)IB-19540CP / COOLING CROSS SECTION POLISHER™(冷卻截面拋光機)IB-19550CCP。 CROSS SECTION POLISHER™ (CP)廣泛應用於電子零件、陶瓷、生命科學、金屬、電池和聚合物等領域。機械高品質等截面可以針對複雜材料和易碎樣品進行輕鬆製備。 自2003年推出以來,CP已取得超過2000台的銷售記錄,一直是重要的預處理工具。 經過改進的IB-19540CP / IB-19550CCP更加易于使用。全新GUI(圖形化使用者介面)和 IoT(物聯網)的結合進一步提高了易用性,並可透過PC進行遠端控制和銑削過程監控。高通量離子源和高通量冷卻系統能夠快速製備光滑的橫截面,同時減少損傷。 主要特點 1. 全新的GUI和物聯網(IoT) 採用新的GUI使操作步驟變得易於理解。 按照控制台上...

JEOL:推出新款Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810

東京--(BUSINESS WIRE)--(美國商業資訊)-- JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(總裁兼執行長:Izumi Oi)宣佈將於2024年7月28日發佈新款Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810。 場發射掃描電子顯微鏡(FESEM)廣泛應用於科研機構、大學和工業等科技領域。人們越來越需要一種從觀察到分析都可以輕鬆、準確、快速、高效使用的儀器。 JSM-IT810在JSM-IT800的基礎上增加了「Neo Action」自動觀察和分析功能以及自動校準功能,並配備了新一代電子光學控制系統「Neo Engine」和「SEM Center」,實現了Zeromag和EDS整合等高操作性,不僅可以提高效率和生產力,還有助於解決勞動力短缺問題。 主要功能 1. 自動觀察和分析功能「Neo Action」 您只需選擇SEM影像擷取條件和視場,該功能就會自動執行SEM觀察和EDS(能量色散X射線光譜)分析。 該功能有助於提高日常工作(包括分析工作)的效率。 2. 自動校準功能「SEM Automa...

JEOL:即將發布掃描電子顯微鏡JSM-IT710HR/JSM-IT210

東京--(BUSINESS WIRE)--(美國商業資訊)-- JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(總裁兼執行長:Izumi Oi)宣布將於2023年7月23日發布掃描電子顯微鏡JSM-IT710HR/JSM-IT210。 掃描電子顯微鏡廣泛用於從基礎研究、生產線、品質保證到研發的各個階段,其應用領域包括金屬、半導體、電池、生物科技和聚合物等。使用者越來越希望掃描電子顯微鏡能夠更方便地幫助他們確認成分資訊,而無需關心觀測和分析過程。 JSM-IT710HR改進了電子槍的穩定性,JSM-IT210則採用了5軸馬達控制的樣品台。兩款型號均提升了用於觀測和分析的自動測量功能,從而顯著提高了掃描電子顯微鏡(SEM)的綜合能力。這兩款儀器將滿足近年來市場對自動測量的需求,有助於提高日常工作的效率。 主要功能 1. Simple SEM功能可自動取得SEM影像並進行EDS分析 利用Simple SEM功能,使用者只需設定SEM影像的採集條件和視場,即可自動獲得SEM影像和EDS(能量色散X射線光譜測定)分析的結果。該功能將有助於提高包括分析在內的日常工作效率。 2. Live3D功能可現...
Back to Newsroom