JEOL: release van de nieuwe scanning-elektronenmicroscoop JSM-IT510-serie InTouchScope™
JEOL: release van de nieuwe scanning-elektronenmicroscoop JSM-IT510-serie InTouchScope™
– Gemakkelijk om gegevens voor alle specimentypes te verwerven –
TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(President & COO Izumi Oi) kondigt de ontwikkeling en release aan van een nieuwe scanning electron microscope (SEM), de JSM-IT510-serie, in november 2021.
Achtergrond productontwikkeling
Scanning-elektronenmicroscopen worden gebruikt in een breed scala van gebieden, zoals nanotechnologie, metalen, halfgeleiders, keramiek, geneeskunde en biologie. Bovendien breiden SEM-toepassingen zich uit tot niet alleen basisonderzoek, maar ook kwaliteitscontrole op productielocaties. Hierdoor neemt de vraag naar snellere en eenvoudigere data-acquisitie van zowel SEM-beelden als analyseresultaten, zoals energiedispersieve röntgenspectroscopie (EDS) spectra, toe.
Deze bekendmaking is officieel geldend in de originele brontaal. Vertalingen zijn slechts als leeshulp bedoeld en moeten worden vergeleken met de tekst in de brontaal, die als enige rechtsgeldig is.
Contacts
JEOL Ltd.
Science and Measurement Instruments Sales Division
Hironori TASAKA
TEL: +81-3-6262-3567
E-mail: htasaka@jeol.co.jp
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

