-

JEOL: release van de nieuwe scanning-elektronenmicroscoop JSM-IT510-serie InTouchScope™

Gemakkelijk om gegevens voor alle specimentypes te verwerven –

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(President & COO Izumi Oi) kondigt de ontwikkeling en release aan van een nieuwe scanning electron microscope (SEM), de JSM-IT510-serie, in november 2021.

Achtergrond productontwikkeling

Scanning-elektronenmicroscopen worden gebruikt in een breed scala van gebieden, zoals nanotechnologie, metalen, halfgeleiders, keramiek, geneeskunde en biologie. Bovendien breiden SEM-toepassingen zich uit tot niet alleen basisonderzoek, maar ook kwaliteitscontrole op productielocaties. Hierdoor neemt de vraag naar snellere en eenvoudigere data-acquisitie van zowel SEM-beelden als analyseresultaten, zoals energiedispersieve röntgenspectroscopie (EDS) spectra, toe.

Deze bekendmaking is officieel geldend in de originele brontaal. Vertalingen zijn slechts als leeshulp bedoeld en moeten worden vergeleken met de tekst in de brontaal, die als enige rechtsgeldig is.

Contacts

JEOL Ltd.
Science and Measurement Instruments Sales Division
Hironori TASAKA
TEL: +81-3-6262-3567
E-mail:  htasaka@jeol.co.jp
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

JEOL Ltd.

TOKYO:6951


Contacts

JEOL Ltd.
Science and Measurement Instruments Sales Division
Hironori TASAKA
TEL: +81-3-6262-3567
E-mail:  htasaka@jeol.co.jp
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

More News From JEOL Ltd.

Samenvatting: JEOL: presentatie van nieuwe CROSS SECTION POLISHER™ IB-19540CP / IB-19550CCP

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (President en CEO: Izumi Oi) kondigt de release aan van de nieuwe CROSS SECTION POLISHER™ IB-19540CP / COOLING CROSS SECTION POLISHER™ IB-19550CCP voor elektronenmicroscopen op 4 september 2024. De CROSS SECTION POLISHER™ wordt veel gebruikt op het gebied van elektronische onderdelen, keramiek, biowetenschappen, metaal, batterijen en polymeren. De mechanische uniforme dwarsdoorsnede van hoge kwaliteit kan gemakkelijk worden voorbereid voor complexe...

Samenvatting: JEOL: nieuwe Schottky veldemissie scanning electronen microscoop JSM-IT810 uitgebracht

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(President en CEO: Izumi Oi) kondigt de release aan van de nieuwe Schottky veldemissie scanning elektronenmicroscoop JSM-IT810 op 28 juli 2024. Veldemissie scanning elektronenmicroscopen (Field Emission Scanning Electron Microscopes, FESEM) worden veel gebruikt in wetenschap en technologie, zoals onderzoeksinstituten, universiteiten en de industrie. Er is een groeiende vraag naar een instrument dat eenvoudig, nauwkeurig, snel en efficiënt kan worden...

Samenvatting: JEOL: release van scanning-elektronenmicroscopen JSM-IT710HR/JSM-IT210

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKIO:6951) (President en CEO Izumi Oi) maakt de release bekend van de scanning-elektronenmicroscopen JSM-IT710HR/JSM-IT210 op 23 juli 2023 Scanning-elektronenmicroscopen worden gebruikt voor een breed scala aan doeleinden, van standaard onderzoeksactiviteiten, productielijnen en kwaliteitsborging tot onderzoek en ontwikkeling. De toepassingsgebieden omvatten metalen, halfgeleiders, batterijen, biotechnologie en polymeren. Bovendien is er grote behoefte aan ee...
Back to Newsroom