-

JEOL en SCiLS ondertekenen een distributieovereenkomst voor SCiLS Lab MVS-software

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd.(TOKYO:6951) (President & COO Izumi Oi) en SCiLS, een divisie van Bruker Daltonics, hebben aangekondigd dat ze een niet-exclusieve, wereldwijde distributieovereenkomst hebben gesloten voor SCiLS Lab MVS-software.

https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/MS-Imaging.html

Het SCiLS Lab was de voorkeurssoftware van onderzoekers die nieuwe inzichten wilden verkrijgen uit massaspectrometrie beeldvorming. Gebruikt in de wetenschap en de sector, zet de software nieuwe normen in analyse en visualisatie, vereenvoudigt het dagelijkse werk en bevordert het onderzoek. De SCiLS Lab MVS (Multi-Vender Support) kan worden gebruikt voor de analyse van massaspectrometrie beeldvorming datasets op basis van het open imzML-gegevensformaat. SCiLS Lab MVS biedt alle functies van SCiLS Lab en maakt de statistische analyse en visualisatie van massaspectrometrie beeldgegevens van vrijwel onbeperkte grootte in twee en drie ruimtelijke dimensies mogelijk.

Deze bekendmaking is officieel geldend in de originele brontaal. Vertalingen zijn slechts als leeshulp bedoeld en moeten worden vergeleken met de tekst in de brontaal, die als enige rechtsgeldig is.

Contacts

JEOL Ltd.
Science and Measurement Instruments Sales Division
SI Sales Promotion Department
MS Group
Toshihito YAMAMOTO
+81-3-6262-3575
E-mail:  toyamamo@jeol.co.jp
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

JEOL Ltd.

TOKYO:6951


Contacts

JEOL Ltd.
Science and Measurement Instruments Sales Division
SI Sales Promotion Department
MS Group
Toshihito YAMAMOTO
+81-3-6262-3575
E-mail:  toyamamo@jeol.co.jp
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

More News From JEOL Ltd.

Samenvatting: JEOL: Lancering van HAXIS: de nieuwe rasterelektronenmicroscoop met ionenpolijstsysteem onder een kleine hoek

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. kondigt de ontwikkeling aan van HAXIS, zijn nieuwe rasterelektronenmicroscoop met ionenpolijstsysteem onder een kleine hoek, en start de verkoop vandaag op 5 oktober 2026. HAXIS rasterelektronenmicroscoop met ionenpolijstsysteem onder een kleine hoek Achtergrond van de ontwikkeling Naarmate de structuren van geavanceerde halfgeleidercomponenten steeds kleiner en complexer worden, is het moeilijker geworden om met behulp van nanomanipulatoren contact te maken me...

Samenvatting: JEOL: lancering van de nieuwe benchtop rasterelektronenmicroscoop “JCM-7000Plus NeoScope™”

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (voorzitter & CEO: Izumi Oi) heeft de benchtop REM (rasterelektronenmicroscoop) “JCM-7000Plus” ontwikkeld en start de verkoop op 1 september 2026. [Ontwikkelingsachtergrond] Benchtop rasterelektronenmicroscopen worden steeds meer ingezet in domeinen zoals elektrische apparatuur en elektronica, de automobielindustrie en machineparken, staal en metalen, chemische industrie en farmaceutica. Ze worden niet alleen voor R&D gebruikt, maar ook in productiegere...

Samenvatting: JEOL: lancering van de verkoop van het SEM-lasersysteem “LazEdge”

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (voorzitter & CEO: Izumi Oi) heeft de “LazEdge” ontwikkeld, een SEM-systeem uitgerust met een laserverwerkingssysteem, en start met de verkoop op 25 mei 2026. Apparatuur voor doorsnedepreparatie van dwarsdoorsneden zoals het FIB-systeem (Focused Ion Beam-systeem) worden in de wetenschappen en de technologiesector alom gebruikt in onderzoeksinstellingen, universiteiten en industrieën. Sinds enkele jaren is de vraag gestegen naar een systeem dat grote gebiede...
Back to Newsroom