-

JEOL et SCiLS signent un accord de distribution pour le logiciel SCiLS Lab MVS

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO : 6951) (président & directeur de l'exploitation Izumi Oi) et SCiLS, une division de Bruker Daltonics, ont annoncé la signature d'un accord de distribution mondial non exclusif portant sur le logiciel SCiLS Lab MVS.

https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/MS-Imaging.html

Le SCiLS Lab est le logiciel de prédilection des chercheurs qui veulent acquérir de nouvelles perspectives à partie de l'imagerie de spectrométrie de masse. Le logiciel, qui est utilisé en science et dans l'industrie, établit de nouvelles normes en matière d'analyse et de visualisation, en simplifiant le travail de tous les jours et en faisant progresser la recherche. Le SCiLS Lab MVS (support multifournisseurs) peut être utilisé pour analyser des ensembles de données d'imagerie de spectrométrie de masse basés sur le format de données imzML ouvert. Le SCiLS Lab MVS offre toutes les fonctionnalités de SCiLS Lab et permet l'analyse statistique et la visualisation de données d'imagerie de spectrométrie de masse d'une taille pratiquement illimitée en deux et trois dimensions spatiales.

« Nous sommes ravis de collaborer avec JEOL pour disséminer conjointement la technologie de spectrométrie de masse et soutenir le développement de la solution d'imagerie MALDI par JEOL », a déclaré Dennis Trede, co-fondateur de SCiLS et directeur de Bruker Daltonics. « SCiLS Lab MVS – notre progiciel pour l'analyse de données indépendante du fournisseur – offre la compatibilité la plus large possible pour les données d'imagerie de spectrométrie de masse de tous les fournisseurs. Le logiciel permet de convertir des données en connaissances en toute facilité, quels que soient les spectromètres de masse d'où proviennent les données. »

« Nous sommes ravis d'offrir le logiciel SCiLS lab MVS via nos propres canaux de vente », a déclaré Yoshihisa Ueda, directeur général de l'unité commerciale de spectrométrie de masse de JEOL Ltd. « La capacité d'analyse statistique ultra sophistiquée de SCiLS Lab MVS sera extrêmement avantageuse pour nos utilisateurs de SpiralTOF™-plus car ils peuvent désormais tirer pleinement parti de la forte puissance de résolution en masse de SpiralTOF™-plus pour leurs recherches d'imagerie SM. »

À propos de SCiLS

La société SCiLS a été fondée en 2010 en tant qu’entreprise dérivée de l'Université de Brême dans le but de développer et de promouvoir des solutions logicielles mathématiques et informatiques pour l'imagerie de spectrométrie de masse. SCiLS fait partie de Bruker Corporation depuis 2017.
URL : www.scils.de

JEOL Ltd.

3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japon
Izumi Oi, président et directeur de l’exploitation
(Code boursier : 6951, Première section de la Bourse de Tokyo)
www.jeol.com

Le texte du communiqué issu d’une traduction ne doit d’aucune manière être considéré comme officiel. La seule version du communiqué qui fasse foi est celle du communiqué dans sa langue d’origine. La traduction devra toujours être confrontée au texte source, qui fera jurisprudence.

Contacts

JEOL Ltd.
Division des ventes d'instruments scientifiques et de mesure
Département de promotion des ventes de SI
MS Group
Toshihito YAMAMOTO
+81-3-6262-3575
E-mail : toyamamo@jeol.co.jp
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

JEOL Ltd.

TOKYO:6951


Contacts

JEOL Ltd.
Division des ventes d'instruments scientifiques et de mesure
Département de promotion des ventes de SI
MS Group
Toshihito YAMAMOTO
+81-3-6262-3575
E-mail : toyamamo@jeol.co.jp
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

More News From JEOL Ltd.

JEOL : nouveau CROSS SECTION POLISHER™ IB-19540CP / IB-19550CCP disponible

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (président-directeur général : Izumi Oi) annonce la sortie du nouveau CROSS SECTION POLISHER™ IB-19540CP / COOLING CROSS SECTION POLISHER™ IB-19550CCP pour microscopes électroniques le 4 septembre 2024. CROSS SECTION POLISHER™ (CP) est utilisé à grande échelle dans les domaines des pièces électroniques, de la céramique, des sciences de la vie, des métaux, des batteries et des polymères. La section transversale uniforme de haute qualité mécanique pe...

JEOL : le nouveau microscope électronique à balayage à émission de champ Schottky JSM-IT810 est disponible

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (président-directeur général : Izumi Oi) annonce la sortie du nouveau microscope électronique à balayage à émission de champ Schottky JSM-IT810 le 28 juillet 2024. Les microscopes électroniques à balayage à émission de champ (FESEM) sont couramment utilisés dans les domaines de la science et de la technologie, notamment dans les instituts de recherche, les universités et l’industrie. Il existe une demande croissante pour un instrument qui peut être...

JEOL : lancement des microscopes électroniques à balayage JSM-IT710HR/JSM-IT210

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO : 6951) (Président et PDG Izumi Oi) annonce le lancement des microscopes électroniques à balayage JSM-IT710HR/JSM-IT210 le 23 juillet 2023. Les microscopes électroniques à balayage sont utilisés pour un large éventail d’objectifs allant de la recherche fondamentale, des lignes de production et de l’assurance qualité à la recherche et au développement, et leurs domaines d’application incluent les métaux, les semi-conducteurs, les batteries, la biotechnolo...
Back to Newsroom