JEOL: release van de nieuwe scan elektronenmicroscoop JSM-IT700HR
JEOL: release van de nieuwe scan elektronenmicroscoop JSM-IT700HR
SEM – essentieel bij dagelijkse laboratoriumwerkzaamheden – JSM-IT700HR maakt het gemakkelijk
TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO: 6951) (President & COO Izumi Oi) kondigt de release aan van een nieuwe scanning-elektronenmicroscoop (SEM), de JSM-IT700HR voor ongekend hoge doorvoer in augustus 2020.
Ontwikkeling achtergrond
Scanning-elektronenmicroscopen worden gebruikt op verschillende gebieden, zoals nanotechnologie, metalen, halfgeleiders, keramiek, geneeskunde en biologie. Daarnaast breiden SEM-toepassingen uit met kwaliteitscontrole en fundamenteel onderzoek. De eisen worden steeds groter voor snellere data-acquisitie van SEM-afbeeldingen van hogere kwaliteit en voor eenvoudiger bevestiging van compositorische informatie.
Deze bekendmaking is officieel geldend in de originele brontaal. Vertalingen zijn slechts als leeshulp bedoeld en moeten worden vergeleken met de tekst in de brontaal, die als enige rechtsgeldig is.
Contacts
JEOL Ltd.
Science and Measurement Instruments Sales Division
Yoshiki YAMASAKI
+81-3-6262-3567
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

