-

JEOL: release van de nieuwe scan elektronenmicroscoop JSM-IT700HR

SEM – essentieel bij dagelijkse laboratoriumwerkzaamheden – JSM-IT700HR maakt het gemakkelijk

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO: 6951) (President & COO Izumi Oi) kondigt de release aan van een nieuwe scanning-elektronenmicroscoop (SEM), de JSM-IT700HR voor ongekend hoge doorvoer in augustus 2020.

Ontwikkeling achtergrond

Scanning-elektronenmicroscopen worden gebruikt op verschillende gebieden, zoals nanotechnologie, metalen, halfgeleiders, keramiek, geneeskunde en biologie. Daarnaast breiden SEM-toepassingen uit met kwaliteitscontrole en fundamenteel onderzoek. De eisen worden steeds groter voor snellere data-acquisitie van SEM-afbeeldingen van hogere kwaliteit en voor eenvoudiger bevestiging van compositorische informatie.

Deze bekendmaking is officieel geldend in de originele brontaal. Vertalingen zijn slechts als leeshulp bedoeld en moeten worden vergeleken met de tekst in de brontaal, die als enige rechtsgeldig is.

Contacts

JEOL Ltd.
Science and Measurement Instruments Sales Division
Yoshiki YAMASAKI
+81-3-6262-3567
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

JEOL Ltd.

TOKYO:6951


Contacts

JEOL Ltd.
Science and Measurement Instruments Sales Division
Yoshiki YAMASAKI
+81-3-6262-3567
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

More News From JEOL Ltd.

Samenvatting: JEOL: presentatie van nieuwe CROSS SECTION POLISHER™ IB-19540CP / IB-19550CCP

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (President en CEO: Izumi Oi) kondigt de release aan van de nieuwe CROSS SECTION POLISHER™ IB-19540CP / COOLING CROSS SECTION POLISHER™ IB-19550CCP voor elektronenmicroscopen op 4 september 2024. De CROSS SECTION POLISHER™ wordt veel gebruikt op het gebied van elektronische onderdelen, keramiek, biowetenschappen, metaal, batterijen en polymeren. De mechanische uniforme dwarsdoorsnede van hoge kwaliteit kan gemakkelijk worden voorbereid voor complexe...

Samenvatting: JEOL: nieuwe Schottky veldemissie scanning electronen microscoop JSM-IT810 uitgebracht

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(President en CEO: Izumi Oi) kondigt de release aan van de nieuwe Schottky veldemissie scanning elektronenmicroscoop JSM-IT810 op 28 juli 2024. Veldemissie scanning elektronenmicroscopen (Field Emission Scanning Electron Microscopes, FESEM) worden veel gebruikt in wetenschap en technologie, zoals onderzoeksinstituten, universiteiten en de industrie. Er is een groeiende vraag naar een instrument dat eenvoudig, nauwkeurig, snel en efficiënt kan worden...

Samenvatting: JEOL: release van scanning-elektronenmicroscopen JSM-IT710HR/JSM-IT210

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKIO:6951) (President en CEO Izumi Oi) maakt de release bekend van de scanning-elektronenmicroscopen JSM-IT710HR/JSM-IT210 op 23 juli 2023 Scanning-elektronenmicroscopen worden gebruikt voor een breed scala aan doeleinden, van standaard onderzoeksactiviteiten, productielijnen en kwaliteitsborging tot onderzoek en ontwikkeling. De toepassingsgebieden omvatten metalen, halfgeleiders, batterijen, biotechnologie en polymeren. Bovendien is er grote behoefte aan ee...
Back to Newsroom