-

JEOL: release van de nieuwe scan elektronenmicroscoop JSM-IT700HR

SEM – essentieel bij dagelijkse laboratoriumwerkzaamheden – JSM-IT700HR maakt het gemakkelijk

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO: 6951) (President & COO Izumi Oi) kondigt de release aan van een nieuwe scanning-elektronenmicroscoop (SEM), de JSM-IT700HR voor ongekend hoge doorvoer in augustus 2020.

Ontwikkeling achtergrond

Scanning-elektronenmicroscopen worden gebruikt op verschillende gebieden, zoals nanotechnologie, metalen, halfgeleiders, keramiek, geneeskunde en biologie. Daarnaast breiden SEM-toepassingen uit met kwaliteitscontrole en fundamenteel onderzoek. De eisen worden steeds groter voor snellere data-acquisitie van SEM-afbeeldingen van hogere kwaliteit en voor eenvoudiger bevestiging van compositorische informatie.

Deze bekendmaking is officieel geldend in de originele brontaal. Vertalingen zijn slechts als leeshulp bedoeld en moeten worden vergeleken met de tekst in de brontaal, die als enige rechtsgeldig is.

Contacts

JEOL Ltd.
Science and Measurement Instruments Sales Division
Yoshiki YAMASAKI
+81-3-6262-3567
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

JEOL Ltd.

TOKYO:6951


Contacts

JEOL Ltd.
Science and Measurement Instruments Sales Division
Yoshiki YAMASAKI
+81-3-6262-3567
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

More News From JEOL Ltd.

Samenvatting: JEOL: lancering van de verkoop van het SEM-lasersysteem “LazEdge”

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (voorzitter & CEO: Izumi Oi) heeft de “LazEdge” ontwikkeld, een SEM-systeem uitgerust met een laserverwerkingssysteem, en start met de verkoop op 25 mei 2026. Apparatuur voor doorsnedepreparatie van dwarsdoorsneden zoals het FIB-systeem (Focused Ion Beam-systeem) worden in de wetenschappen en de technologiesector alom gebruikt in onderzoeksinstellingen, universiteiten en industrieën. Sinds enkele jaren is de vraag gestegen naar een systeem dat grote gebiede...

Samenvatting: JEOL: presentatie van nieuwe CROSS SECTION POLISHER™ IB-19540CP / IB-19550CCP

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (President en CEO: Izumi Oi) kondigt de release aan van de nieuwe CROSS SECTION POLISHER™ IB-19540CP / COOLING CROSS SECTION POLISHER™ IB-19550CCP voor elektronenmicroscopen op 4 september 2024. De CROSS SECTION POLISHER™ wordt veel gebruikt op het gebied van elektronische onderdelen, keramiek, biowetenschappen, metaal, batterijen en polymeren. De mechanische uniforme dwarsdoorsnede van hoge kwaliteit kan gemakkelijk worden voorbereid voor complexe...

Samenvatting: JEOL: nieuwe Schottky veldemissie scanning electronen microscoop JSM-IT810 uitgebracht

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(President en CEO: Izumi Oi) kondigt de release aan van de nieuwe Schottky veldemissie scanning elektronenmicroscoop JSM-IT810 op 28 juli 2024. Veldemissie scanning elektronenmicroscopen (Field Emission Scanning Electron Microscopes, FESEM) worden veel gebruikt in wetenschap en technologie, zoals onderzoeksinstituten, universiteiten en de industrie. Er is een groeiende vraag naar een instrument dat eenvoudig, nauwkeurig, snel en efficiënt kan worden...
Back to Newsroom