JEOL : Sortie du nouveau microscope électronique à balayage JSM-IT700HR

Le MEB – Essentiel dans le fonctionnement quotidien du laboratoire – JSM-IT700HR facilite les choses

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO : 6951) (Président & COO Izumi Oi) annonce la sortie en août 2020 d’un nouveau microscope électronique à balayage (MEB), le JSM-IT700HR, offrant un débit sans précédent.

Contexte du développement

Les microscopes électroniques à balayage sont utilisés dans divers domaines tels que la nanotechnologie, les métaux, les semiconducteurs, la céramique, la médecine et la biologie. Les applications du MEB sont, par ailleurs, en cours de développement afin d’inclure le contrôle de qualité et la recherche fondamentale. Les demandes pour une acquisition plus rapide des données à partir d’images MEB de meilleure qualité, et une confirmation plus facile des informations de composition sont en hausse.

Basé sur nos prédécesseurs primés de la série de MEB « InTouchScope™ », le JSM-IT700HR est équipé de notre canon à électrons à émission à effet de champ (field emission electron gun, FEG) Schottky, intégré à l’objectif. Ce nouveau MEB puissant répond aux besoins d’observation et d’analyse d’autres matériaux miniaturisés, dans le fonctionnement quotidien du laboratoire.

Le JSM-IT700HR offre une haute résolution de 1 nm et un courant de sonde maximal de 300 nA (15 fois plus élevé qu’auparavant), fournissant une multitude d’informations d’observation et d’analyse. Avec une interface utilisateur facile à utiliser, une conception compacte accueillant une grande chambre à échantillons, et un support anti-vibration renouvelé pour la console principale, l’observation et l’analyse sont encore plus aisées qu’auparavant.

Pour améliorer encore la « simplicité de fonctionnement », le JSM-IT700HR intègre une nouvelle fonction, intégrée dans l’interface graphique du MEB, pour afficher la profondeur caractéristique de génération de rayons X. Cela permet une compréhension rapide de la profondeur d’analyse (référence) de l’échantillon, particulièrement utile pour l’analyse élémentaire.

Deux configurations sont disponibles, 1) JSM-IT700HR/LV pour l’observation d’images sous vide, poussée et faible, et 2) JSM-IT700HR/LA avec système JEOL EDS intégré supplémentaire.

Caractéristiques

1. Le canon à électrons à émission à effet de champ Schottky, intégré à l’objectif permet une observation d’image haute définition et une analyse à haute résolution spatiale.
2. La fonction Zeromag reliant Holder Graphics, CCD et les images du MEB rend la navigation des échantillons plus facile que jamais.
3. Avec notre « série Analytical » (fonction Live Analysis), le système EDS intégré offre un spectre EDS en temps réel pendant l’observation de l’image, garantissant ainsi une analyse élémentaire rapide et efficace.
4. Une nouvelle fonction pour afficher la profondeur d’analyse (profondeur caractéristique de génération de rayons X) permet une analyse élémentaire accélérée.
5. SMILE VIEW™ Lab, qui permet la gestion intégrée des images et des données d’analyse, facilite la génération de rapports pour toutes les données, des images MEB collectées aux résultats d’analyse élémentaire.
6. « Specimen Exchange Navi » assure un échange d’échantillons sûr et simple.
7. Avec la fonction d’Alignement automatique du faisceau (Auto Beam Alignment), les conditions optiques des électrons sont toujours optimales.
8. Le « système d’échange Drawout » offre un accès facile à la grande chambre d’échantillons accueillant différentes tailles et types d’échantillons

Objectif de vente

130 unités/an (première année)

URL : https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JSM-IT700HR.html

JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japon
Izumi Oi, Président et directeur d’exploitation
(Code boursier : 6951, Première section de la Bourse de Tokyo)
www.jeol.com

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