-

Rigaku wint Diana Nyyssonen Memorial Best Paper Award met methode voor het inspecteren en meten van defecten in 3D-flashgeheugen

- Niet-destructieve visualisering van structuren op nanoschaal gerealiseerd met gebruik van röntgenmicroscoop met ultrahoge resolutie -

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--Rigaku Corporation, een groepsmaatschappij van Rigaku Holdings Corporation (hoofdkantoor: Akishima, Tokio; CEO: Jun Kawakami; hierna “Rigaku”) heeft de Diana Nyyssonen Memorial Best Paper Award (hierna “de Prijs”) gewonnen met een revolutionaire, niet-destructieve methode voor het detecteren van defecten in 3D-flashgeheugen. De inspectie- en meettechnologie (hierna "de Technologie") gebruikt een röntgenmicroscoop met ultrahoge resolutie.

De Prijs wordt toegekend aan het team dat het meest overtuigende werkstuk schrijft op het gebied van meting, inspectie en procescontrole op de conferenties van SPIE Advanced Lithography + Patterning.

Deze bekendmaking is officieel geldend in de originele brontaal. Vertalingen zijn slechts als leeshulp bedoeld en moeten worden vergeleken met de tekst in de brontaal, die als enige rechtsgeldig is.

Contacts

Perscontactpersoon:
Sawa Himeno
Head of Communications Dept., Rigaku Holdings Corporation
prad@rigaku.co.jp
+81 90 6331 9843

Rigaku Holdings Corporation



Contacts

Perscontactpersoon:
Sawa Himeno
Head of Communications Dept., Rigaku Holdings Corporation
prad@rigaku.co.jp
+81 90 6331 9843

More News From Rigaku Holdings Corporation

Samenvatting: Rigaku lanceert ONYX 3200, een metrologie-instrument voor halfgeleiderproductie

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--Rigaku Corporation, een wereldwijde partner in röntgenanalytische systemen en een dochteronderneming van Rigaku Holdings Corporation (hoofdkantoor: Akishima, Tokyo; CEO: Jun Kawakami; hierna 'Rigaku'), heeft de lancering aangekondigd van de ONYX 3200, een nieuw metrologiesysteem voor halfgeleiders dat de filmdikte, samenstelling en bump*-structuren meet voor processen op waferniveau. Het systeem is ontworpen om fabrikanten te helpen de kwaliteit te stabiliseren en de opb...

Samenvatting: Rigaku lanceert XTRAIA MF-3400, een meetinstrument voor de volgende generatie halfgeleiders

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--Rigaku Corporation, een wereldwijde partner in röntgenanalysesystemen en een groepsmaatschappij van Rigaku Holdings Corporation (hoofdkantoor: Akishima, Tokio; CEO: Jun Kawakami; hierna 'Rigaku'), heeft de XTRAIA MF-3400 gelanceerd, een instrument dat wordt gebruikt in halfgeleiderproductieprocessen om de dikte en samenstelling van wafers te meten. De XTRAIA MF-3400 zal de productiviteit in de snelgroeiende halfgeleidermarkt aanzienlijk verhogen door een zeer nauwkeurige...

Samenvatting: Rigaku Holdings publiceert geïntegreerd verslag 2025

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--Rigaku Holdings Corporation (hoofdkantoor: Akishima, Tokio; CEO: Jun Kawakami; hierna "Rigaku") heeft zijn eerste Integrated Report 2025 (hierna "het rapport") gepubliceerd op de website van Rigaku. Het rapport dient als medium voor geïntegreerde communicatie met alle belanghebbenden. Het rapport biedt een overzicht van Rigaku's investeringen, technologische innovaties, bedrijfsactiviteiten en wereldwijde groeistrategie. Het presenteert ook Rigaku's financiële en niet-fi...
Back to Newsroom