理学将于SEMICON Taiwan 2026展示先进X射线计量与检测解决方案
理学将于SEMICON Taiwan 2026展示先进X射线计量与检测解决方案
– 人工智能时代的X光技术用于先进逻辑、HBM与先进封装 –
台湾新竹--(BUSINESS WIRE)--(美国商业资讯)-- (美国商业资讯)-- 理学集团将于2026年9月2日至4日在台北南港展览馆一馆参与“SEMICON Taiwan 2026”展出。
SEMICON Taiwan是半导体行业的国际领先展览。台湾拥有全球领先的半导体生态系统,并在先进逻辑、高带宽内存(HBM)及先进封装技术的制造中扮演核心角色。随着2025年台湾理学科技中心(RTC-TW)的启用,理学持续加强其在该地区的业务布局。
为应对先进逻辑、HBM及先进封装领域日益复杂的半导体制造,Rigaku将于SEMICON Taiwan 2026展示先进的X射线计量与检测解决方案。这些解决方案覆盖从研发到大规模制造的应用,支持工艺控制、材料特性分析及非破坏性分析,面向日益复杂的半导体器件与封装。参观者也可在展台与理学专家会面,讨论特定的计量、工艺控制与分析需求。
产品亮点
- XHENA AX-3000:先进的X射线检测技术,用于2.5D/3D封装,设计用于检查仅用常规光学检测难以检测的隐藏结构。系统具备3D层析成像与自动缺陷识别,支持高分辨率、次微米级缺陷检测,应用范围覆盖CoWoS*1、HBM及混合键合中的微凸块与硅穿孔(TSV)工艺。目前可供客户进行评估。
- XHEMIS WX-PLP310:用于面板级封装(PLP)*2 工艺控制的新型X射线分析仪,目前可供客户进行评估。该系统可测量大型基板上的材料组成与薄膜厚度,并支持朝着大型面板格式转变的先进封装工艺控制。
- XTRAIA MF系列:本系列的旗舰机种为XTRAIA MF-3400,这是 Rigaku 第四代多功能X射线计量平台,可提供快速的薄膜分析,另外还有 XTRAIA XD-3300,可用于量测晶圆上超小尺寸测试监控垫的高精度结构。
-
ONYX系列:支持先进封装、HBM、混合键合及BEOL工艺控制等应用。它结合X射线与光学技术,能快速且无损地量测复杂多层结构。
*1 CoWoS(Chips-on-Wafer-on-Substrate):一种先进封装技术,将多颗芯片垂直集成于单一封装中。
*2 面板级封装(PLP):使用大片矩形基板取代圆形晶圆的封装方法,使每个生产批次能够产生更多芯片。
理学也将强调与Onto Innovation的战略联盟,Onto Innovation结合X射线与光学技术,推动半导体制造的混合计量解决方案。
作为理学75周年庆典的一部分,展台将展示由员工为纪念这个里程碑而创作的官方品牌吉祥物Dr. Rixsee。参观者还将免费获得一本理学75周年纪念笔记本,数量有限。
展览概述
- 日期:2026年9月2日(周三)至4日(周五)
- 场地:台北南港展览馆一馆
- 展位号:N0592
- 预约会议: rtc.tw@rigaku.com
- SEMICON Taiwan官网
- 理学参展展台页面
关于理学集团
自1951年成立以来,理学集团的工程专业人员致力于以前沿技术造福社会,尤其是其核心领域X射线与热分析。Rigaku在136个国家及地区拥有市场布局,并拥有来自全球9个运营网点的约2000名员工,是行业与研究分析机构的解决方案合作伙伴。我们的海外销售比率已达约70%,同时在日本保持极高的市场份额。我们与客户携手,持续发展与增长。随着应用从半导体、电子材料、电池、环境、资源、能源、生命科学扩展到其他高科技领域,理学实现了“通过推动新视野来改善我们的世界”的创新。
详情请访问:rigaku-holdings.com/english
免责声明:本公告之原文版本乃官方授权版本。译文仅供方便了解之用,烦请参照原文,原文版本乃唯一具法律效力之版本。
Contacts
新闻联系人:
日野泽 理学控股公司 企业传播部部长
prad@rigaku.co.jp
