Rigaku lanceert XTRAIA MF-3400, een meetinstrument voor de volgende generatie halfgeleiders
Rigaku lanceert XTRAIA MF-3400, een meetinstrument voor de volgende generatie halfgeleiders
Hoognauwkeurige wafermeting voldoet aan de toenemende vraag van AI en datacenters
TOKYO--(BUSINESS WIRE)--Rigaku Corporation, een wereldwijde partner in röntgenanalysesystemen en een groepsmaatschappij van Rigaku Holdings Corporation (hoofdkantoor: Akishima, Tokio; CEO: Jun Kawakami; hierna 'Rigaku'), heeft de XTRAIA MF-3400 gelanceerd, een instrument dat wordt gebruikt in halfgeleiderproductieprocessen om de dikte en samenstelling van wafers te meten. De XTRAIA MF-3400 zal de productiviteit in de snelgroeiende halfgeleidermarkt aanzienlijk verhogen door een zeer nauwkeurige evaluatie mogelijk te maken van materialen die essentieel zijn voor de massaproductie van geheugenchips en supersnelle AI-apparaten van de volgende generatie.
Naarmate generatieve AI en datacenters blijven groeien, stijgt de vraag naar hoogwaardige, energiezuinige halfgeleiders die enorme hoeveelheden data kunnen verwerken.
Deze bekendmaking is officieel geldend in de originele brontaal. Vertalingen zijn slechts als leeshulp bedoeld en moeten worden vergeleken met de tekst in de brontaal, die als enige rechtsgeldig is.
Contacts
Contactpersoon voor de pers:
Sawa Himeno
Director, Communications Dept., Rigaku Holdings Corporation
prad@rigaku.co.jp

