-

Rigaku lance XTRAIA MF-3400, un instrument de mesure pour les semi-conducteurs de nouvelle génération

La mesure de tranches de haute précision répond à la demande croissante des centres d'IA et de données

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--Rigaku Corporation, partenaire mondial de solutions dans le domaine des systèmes d’analyse par rayons X et société du groupe Rigaku Holdings Corporation (siège social l: Akishima, Tokyo ; directeur général : Jun Kawakami ; ci-après « Rigaku ») lance le XTRAIA MF-3400, un instrument utilisé dans les procédés de fabrication de semi-conducteurs pour mesurer l’épaisseur et la composition des tranches. Le XTRAIA MF-3400 améliorera considérablement la productivité sur le marché en croissance rapide des semi-conducteurs en permettant une évaluation de haute précision des matériaux essentiels à la production en série de puces mémoire de nouvelle génération et d'appareils d'IA à haut débit.

Alors que l'IA générative et les centres de données continuent de se développer, la demande augmente pour des semi-conducteurs haute performance et écoefficients capables de traiter de vastes volumes de données. Par conséquent, les structures de semi-conducteurs deviennent de plus en plus complexes, délicates et tridimensionnelles, avec une seule puce intégrant des milliards de composants électroniques microscopiques.

La production de masse stable de ces dispositifs avancés nécessite des technologies non destructives capables de mesurer et d'isoler les films métalliques avec une précision nanométrique.
Pour répondre à ce besoin, Rigaku a encore optimisé les technologies de rayons X qu'il a soutenu au fil des décennies pour développer le XTRAIA MF-3400. Parmi ses nouvelles capacités, le XTRAIA MF-3400 prend en charge la mesure du molybdène, un élément qui suscite de plus en plus d'attention en tant que matériau de nouvelle génération.

Principales caractéristiques du XTRAIA MF-3400

  • Capacité de mesure jusqu'à deux fois supérieure à celle des appareils précédents
    En doublant la dose de rayons X et en intégrant un nouveau système de transport, le nombre de tranches mesurables par heure est considérablement augmenté.
  • Mesure non destructive avec une précision nanométrique
    Sur un champ de seulement 50 μm, inférieur à la largeur d'un cheveu humain, le XTRAIA MF-3400 peut mesurer l'épaisseur du film avec une précision sub-nanométrique plus fine que l'épaisseur d'un atome.
  • Analyses multiples sur un seul appareil
    Le XTRAIA MF-3400 intègre trois fonctions analytiques utilisant les rayons X : rayons X fluorescents, réflectance des rayons X et diffraction des rayons X. La mesure peut être automatisée en enregistrant des conditions optimales dans des recettes, adaptées à des objectifs tels que la structure, l'épaisseur ou la cristallinité d'un film ultra-mince.

Bilan et perspectives

KIOXIA Corporation et KIOXIA Iwate Corporation ont décidé de mettre le XTRAIA MF-3400 dans des lignes de production de masse pour la mémoire flash 3D NAND1. L'appareil devrait également être utilisé dans la production de mémoire de prochaine génération, où une capacité élevée et des taux de transfert de données élevés sont essentiels et l'adoption de la production de masse est imminente.
En outre, les fabricants de DRAM2 et de semi-conducteurs logiques3 devraient également adopter le XTRAIA MF-3400. Combiné à son modèle précédent, Rigaku prévoit des ventes nettes supérieures à six milliards JPY pour l'exercice 2026.

Une gamme de modules peut être choisie pour le XTRAIA MF-3400 en fonction des différentes applications. Cette flexibilité permet à chaque fabricant de construire l'environnement de mesure idéal pour ses processus de fabrication. Tirant parti de ces atouts en matière de polyvalence et d'évolutivité, Rigaku continuera à développer des applications dans de nouveaux domaines de matériaux et de procédés, visant une croissance durable de 20% par an au cours de l'exercice 2027 et au-delà pour les deux séries de modèles.

1. Support de mémoire qui utilisent une structure 3D pour atteindre une capacité élevée, une vitesse élevée et une faible consommation d'énergie
2. Dispositifs à mémoire principale volatils qui conservent temporairement des données ; le fonctionnement à grande vitesse est une caractéristique clé
3. Semi-conducteurs utilisés pour des processus tels que le calcul et le contrôle

Fiche technique du produit

https://rigaku.com/products/semiconductor-metrology/xrr-edxrf-and-optical-tools/xtraia-mf-3400?setLang=english  

À propos de Rigaku Group

Depuis la création de l'entreprise en 1951, les ingénieurs du groupe Rigaku se consacrent à apporter des bénéfices à la société grâce à des technologies de pointe, notamment dans ses domaines clés que sont l’analyse thermique et l’analyse par rayons X. Présent dans 136 pays et régions et employant quelque 2 000 personnes dans neuf sites à travers le monde, Rigaku est un partenaire de choix pour les industries et les instituts de recherche et d’analyse. Notre chiffre d’affaires à l’international atteint environ 70%, tout en conservant une part de marché exceptionnellement élevée au Japon. Nous continuons à nous développer et à croître aux côtés de nos clients. À mesure que les applications s’étendent des semi-conducteurs, des matériaux électroniques, des batteries, de l’environnement, des ressources, de l’énergie et des sciences de la vie à d’autres domaines de haute technologie, Rigaku réalise des innovations « pour améliorer notre monde en ouvrant de nouvelles perspectives ».
Pour plus de détails, rendez-vous sur rigaku-holdings.com/english

Le texte du communiqué issu d’une traduction ne doit d’aucune manière être considéré comme officiel. La seule version du communiqué qui fasse foi est celle du communiqué dans sa langue d’origine. La traduction devra toujours être confrontée au texte source, qui fera jurisprudence.

Contacts

Contact avec les médias :
Sawa Himeno
Directrice, service des communications, Rigaku Holdings Corporation
prad@rigaku.co.jp

Rigaku Holdings Corporation

TOKYO:268A


Contacts

Contact avec les médias :
Sawa Himeno
Directrice, service des communications, Rigaku Holdings Corporation
prad@rigaku.co.jp

More News From Rigaku Holdings Corporation

Rigaku conclut une alliance stratégique avec Onto Innovation via une prise de participation de 27 %

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--Rigaku Holdings Corporation (siège social : Akishima, Tokyo ; président-directeur général : Jun Kawakami ; « Rigaku »), leader mondial des technologies d’analyse par rayons X, a annoncé aujourd’hui avoir conclu une alliance stratégique en matière de capital et d’activité avec Onto Innovation Inc. (siège social : Massachusetts, États-Unis ; directeur général : Michael P. Plisinski ; « Onto Innovation »). « À mesure que les dispositifs semi-conducteurs gagnent en complexit...

Une nouvelle méthode permet la détermination structurelle de divers composés phénoliques à partir d'un minuscule échantillon de fleur alpine

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--Hyuga Hirano (United Graduate School of Agricultural Science, Université agricole et technologique de Tokyo, et étudiant diplômé collaborateur au Musée national de la nature et des sciences (président : Makoto Manabe) ; Takashi Kikuchi (Application Laboratories, Global Product Unit, Rigaku Corporation, une société du groupe Rigaku Holdings) ; Futa Sakakibara (conseiller technique, division du support R&D, Asterism G.K.) ; Yoshinori Murai (conservateur principal, dépa...

Rigaku lance l'ONYX 3200, un instrument métrologique pour la fabrication de semi-conducteurs

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--Rigaku Corporation, partenaire mondial de solutions d'analyse par rayons X et filiale de Rigaku Holdings Corporation (siège social : Akishima, Tokyo ; CEO : Jun Kawakami ; ci-après « Rigaku »), annonce le lancement de l'ONYX 3200, un nouveau système métrologique pour semi-conducteurs permettant de mesurer l'épaisseur des couches, la composition et les structures des bumps* dans les procédés au niveau de la plaquette. Ce système est conçu pour aider les fabricants à stabi...
Back to Newsroom