Nordson TEST & INSPECTION在臺灣國際半導體展中展示最先進的檢測與量測解決方案

明尼阿波利斯--(BUSINESS WIRE)--(美國商業資訊)-- (美國商業資訊)-- Nordson TEST & INSPECTION今天宣布參加半導體產業最受矚目的盛會之一——臺灣國際半導體展(SEMICON Taiwan)。該公司將展示最先進的檢測和量測解決方案，包括CyberOptics SQ3000™+多功能系統、新型Quadra 7 Pro人工X光檢測(MXI)系統以及革命性的WaferSense® Auto Teaching System™ (ATS2)。展覽會將於2023年9月6日至8日在臺北南港展覽館1館和2館舉行。

新型Quadra 7 Pro MXI系統為後端半導體應用中的3D/2D人工檢測設定了新標準。該系統採用革命性的Onyx®探測器科技，具有出色的影像清晰度和更低的雜訊水準，使檢測體驗的精確度和效率都提升到新境界。

Quadra 7 Pro配備最新的雙模Quadra NT4®管，為用戶提供最大的靈活性。這一創新功能提供了亮度和解析度模式，操作人員可以根據具體應用要求在這兩種模式之間動態切換。

新開發的Revalution™軟體強化了Quadra 7 Pro的功能，該軟體專為高階半導體應用而量身打造。憑藉直覺式的介面、最佳化的工作流程和擴大的功能，Revalution™軟體使操作人員能夠高效地分析和解讀檢測資料，從而加快決策速度並改善整體生產力。

CyberOptics SQ3000™+多功能系統專為高階應用而設計，包括先進封裝、MiniLED、先進表面黏著科技和008004/0201錫膏檢查(SPI)。這種整合式解決方案採用解析度更高的多重反射抑制(Multi-Reflection Suppression®, MRS®)感測器，可有效消除閃亮元件和鏡面反射造成的反射失真，從而提供無與倫比的精確度和高速度。

WaferSense® Auto Teaching System™ (ATS2)是多相機感測器，與CyberSpectrum™軟體結合使用時，可為前端半導體晶圓廠環境的半導體設備校準和設置提供精確的晶圓對位校準。ATS2能夠即時捕捉三維偏移資料（x、y和z），簡化晶圓定位教學，無需打開設備。這就帶來可重複、可再現的設置，簡化維護檢查，加快故障排除，減少技術人員之間的水準差異，從而顯著改善全球半導體晶圓廠的產量和生產力。

如欲見證先進檢測和量測科技的未來，請蒞臨2023年臺灣國際半導體展並造訪位於4樓的L0800號攤位，瞭解Nordson TEST & INSPECTION的一系列業界領先解決方案。

如欲瞭解更多資訊，請造訪www.nordson.com。

關於Nordson TEST & INSPECTION

Nordson TEST & INSPECTION為客戶提供強大的產品組合，包括聲學、光學和人工與自動X光檢測、X光元件計數和Metrology感測器。憑藉一流的精密科技、充滿熱忱的銷售和支援團隊、全球業務版圖，以及深耕產業的豐富應用經驗，Nordson TEST & INSPECTION在服務全球客戶方面獨具優勢。

關於Nordson

Nordson Corporation (Nasdaq: NDSN)是創新型精密科技公司，利用可擴充的成長架構，透過其部門主導的創業型組織架構，創造高水準的成長，以及業界領先的利潤和報酬率。透過各種關鍵應用，公司的直銷模式和應用專長服務全球客戶。其業務遍及多元化的終端市場，包括非耐用消費品、醫療、電子和工業市場。Nordson成立於1954年，總部位於俄亥俄州西湖市，在超過35個國家設有營運和支援辦公室。敬請造訪Nordson的網站：www.nordson.com、www.twitter.com/Nordson_Corp或www.facebook.com/nordson。