-

JEOL: release van Electron Beam Metal AM Machine ”JAM-5200EBM”

– Maakt massaproductie van onderdelen van hoge kwaliteit en reproduceerbaarheid mogelijk –

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO: 6951) (President & COO Izumi Oi) kondigt de release aan van Electron Beam Metal AM Machine JAM-5200EBM vanaf 26 maart 2021. Met behulp van technologie van ‘s werelds best presterende elektronenmicroscoop en elektronenbundellithografiesysteem voor de fabricage van halfgeleiders, heeft JEOL een “Electron Beam Metal AM Machine” ontwikkeld met een hoger vermogen, hogere dichtheid en hogere snelheid. Bovendien worden dankzij de lange levensduur kathode*1 en heliumvrij kostenreductie en massaproductie van onderdelen van hoge kwaliteit en reproduceerbaarheid bereikt. Gebruik in de velden die een hoog kwaliteitsniveau vereisen, zoals lucht- en ruimtevaart, industriële energie en medische toepassingen, wordt verwacht.

Deze bekendmaking is officieel geldend in de originele brontaal. Vertalingen zijn slechts als leeshulp bedoeld en moeten worden vergeleken met de tekst in de brontaal, die als enige rechtsgeldig is.

Contacts

JEOL Ltd.
Industrial Equipment Sales Division
PIC: Hiroshi MURAYAMA, Akiyoshi MATSUYAMA
E-mail:  sales-ieg@jeol.co.jp
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products-3dp.html

JEOL Ltd.

TOKYO:6951


Contacts

JEOL Ltd.
Industrial Equipment Sales Division
PIC: Hiroshi MURAYAMA, Akiyoshi MATSUYAMA
E-mail:  sales-ieg@jeol.co.jp
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products-3dp.html

More News From JEOL Ltd.

Samenvatting: JEOL: Lancering van HAXIS: de nieuwe rasterelektronenmicroscoop met ionenpolijstsysteem onder een kleine hoek

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. kondigt de ontwikkeling aan van HAXIS, zijn nieuwe rasterelektronenmicroscoop met ionenpolijstsysteem onder een kleine hoek, en start de verkoop vandaag op 5 oktober 2026. HAXIS rasterelektronenmicroscoop met ionenpolijstsysteem onder een kleine hoek Achtergrond van de ontwikkeling Naarmate de structuren van geavanceerde halfgeleidercomponenten steeds kleiner en complexer worden, is het moeilijker geworden om met behulp van nanomanipulatoren contact te maken me...

Samenvatting: JEOL: lancering van de nieuwe benchtop rasterelektronenmicroscoop “JCM-7000Plus NeoScope™”

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (voorzitter & CEO: Izumi Oi) heeft de benchtop REM (rasterelektronenmicroscoop) “JCM-7000Plus” ontwikkeld en start de verkoop op 1 september 2026. [Ontwikkelingsachtergrond] Benchtop rasterelektronenmicroscopen worden steeds meer ingezet in domeinen zoals elektrische apparatuur en elektronica, de automobielindustrie en machineparken, staal en metalen, chemische industrie en farmaceutica. Ze worden niet alleen voor R&D gebruikt, maar ook in productiegere...

Samenvatting: JEOL: lancering van de verkoop van het SEM-lasersysteem “LazEdge”

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (voorzitter & CEO: Izumi Oi) heeft de “LazEdge” ontwikkeld, een SEM-systeem uitgerust met een laserverwerkingssysteem, en start met de verkoop op 25 mei 2026. Apparatuur voor doorsnedepreparatie van dwarsdoorsneden zoals het FIB-systeem (Focused Ion Beam-systeem) worden in de wetenschappen en de technologiesector alom gebruikt in onderzoeksinstellingen, universiteiten en industrieën. Sinds enkele jaren is de vraag gestegen naar een systeem dat grote gebiede...
Back to Newsroom