JEOL: Das neue Kryo-Elektronenmikroskop CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) mit Kaltfeldemission kommt auf den Markt

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO: 6951) (Präsident und COO Izumi Oi) kündigt die Markteinführung eines neuen Kaltfeldemissions-Kryo-Elektronenmikroskops (Kryo-EM) an, des CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300), das im Januar 2021 auf den Markt kommen soll. Dieses neue Kryo-EM wurde basierend auf dem folgenden Konzept entwickelt: „Schnell und einfach zu bedienen und kontrastreiche und hochauflösende Bilder erhalten“.

Hintergrund der Entwicklung

Die jüngste dramatische Verbesserung der Auflösung bei der Einzelpartikelanalyse (SPA) unter Verwendung von Kryo-EM hat dazu geführt, dass SPA eine wesentliche Methode für die Strukturanalyse von Proteinen ist. Um diesen Markt anzusprechen, hat JEOL 2017 das CRYO ARM™ 300 auf den Markt gebracht. Ausgestattet mit einer Kaltfeld-Emissionskanone (Cold FEG) für eine verbesserte Auflösung und einer Kryo-Stufe zum Laden mehrerer Proben hat das CRYO ARM™ 300 weiterhin die branchenweit beste Auflösung für SPA erzielt.

Der bisherige SPA-Workflow mit Kryo-EM erfordert jedoch mehrere Elektronenmikroskope, da die Workflows für das Probenscreening und die Bilddatenerfassung unabhängig voneinander sind. Dieses Problem führt zu hohen Betriebskosten für Kryo-EM-Benutzer. Da mehrere Mikroskope verwendet werden müssen, ist es unpraktisch, Kryo-Proben zwischen den Kryo-EMs zu übertragen. Daher haben Benutzer ein Kryo-EM angefordert, die den gesamten Workflow von der Probenprüfung bis zur Bilddatenerfassung ermöglicht. Darüber hinaus war eine Verbesserung der Benutzerfreundlichkeit erforderlich, damit verschiedene Benutzer das Kryo-EM verwenden können, sodass jeder, vom Anfänger bis zum professionellen Benutzer, das Mikroskop reibungslos bedienen kann.

Um diesen Anforderungen gerecht zu werden, hat JEOL ein neues Kryo-EM entwickelt, das CRYO ARM™ 300 II. Dieses Mikroskop erzielt eine große Verbesserung des Durchsatzes für eine qualitativ hochwertige Datenerfassung mit schneller und einfacher Bedienung im Vergleich zum vorherigen CRYO ARM™ 300.

Haupteigenschaften

1. Hochgeschwindigkeitsbildgebung durch optimale Elektronenstrahlsteuerung

2. Verbesserte Hardwarestabilität für eine qualitativ hochwertige Bildaufnahme

3. Höhere Bedienbarkeit durch Systemverbesserung

Jährliches Absatzziel

10 Einheiten/Jahr

Kaltfeldemissions-Kryo-Elektronenmikroskop CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300)
https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JEM-3300.html

JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokio, 196-8558, Japan
Izumi Oi, Präsident und COO
(Börsenkürzel: 6951, Tokyo Stock Exchange First Section)
www.jeol.com

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