-

日本電子株式會社推出新型冷場發射低溫電子顯微鏡CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300)

東京--(BUSINESS WIRE)--(美國商業資訊)-- (美國商業資訊)--日本電子株式會社(JEOL Ltd., TOKYO:6951)(總裁兼營運長:Izumi Oi)宣布將於2021年1月推出一款新型冷場發射低溫電子顯微鏡(低溫電鏡)——CRYO ARM™300 II (JEM-3300)。該新型低溫電鏡根據「操作快捷簡便,影像對比度和解析度高」的理念開發而成。

開發背景

近來,使用低溫電鏡進行單顆粒分析(SPA)的影像解析度明顯提升,這使得單顆粒分析成為蛋白質結構分析的一種重要方法。為了因應這一市場需求,日本電子株式會社於2017年發布了CRYO ARM™300。CRYO ARM™ 300配備用於提高解析度的冷場發射槍(Cold FEG)和用於裝載多個樣本的低溫台,為單顆粒分析持續提供了同級產品最佳解析度。

而在以往的低溫電鏡單顆粒分析中,樣本篩選和影像資料採集是相互獨立的操作流程,需要使用多台電子顯微鏡。這一問題使低溫電鏡使用者需要負擔巨大的營運成本。由於必須使用多台顯微鏡,低溫電鏡之間的低溫樣本轉移存在著諸多不便。因此,使用者需要一種能夠完成從樣本篩選到影像資料採集的整個工作流程的低溫電鏡。此外,為了讓各類用戶都能使用低溫電鏡,讓新手和專業用戶都能順利操作顯微鏡,還需要提高顯微鏡的可用性。

為了滿足這些要求,日本電子株式會社開發出一款新型低溫電鏡——CRYO ARM™300 II。與之前的CRYO ARM™ 300相比,這款顯微鏡可進行高品質的資料擷取,操作快捷簡便,在通量方面有大幅改進。

主要特點

1. 透過最佳電子束控制實現高速成像

2. 硬體穩定性得到提升,可進行高畫質影像採集

3. 系統升級後可操作性更高

銷售量年度目標

10台/年

冷場發射低溫電子顯微鏡CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300)
https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JEM-3300.html

日本電子株式會社
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan
Izumi Oi,總裁兼營運長
(股票代碼:6951,東京證券交易所一部)
www.jeol.com

免責聲明:本公告之原文版本乃官方授權版本。譯文僅供方便瞭解之用,煩請參照原文,原文版本乃唯一具法律效力之版本。

Contacts

日本電子株式會社
科學與測量儀器銷售部
Hideya UENO
+81-3-6262-3567
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

JEOL Ltd.

TOKYO:6951


Contacts

日本電子株式會社
科學與測量儀器銷售部
Hideya UENO
+81-3-6262-3567
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

More News From JEOL Ltd.

JEOL:HAXIS上市銷售:全新低角度離子研磨掃描電子顯微鏡

東京--(BUSINESS WIRE)--(美國商業資訊)-- JEOL Ltd.(總裁兼執行長:Izumi Oi)宣布開發出全新的低角度離子研磨掃描電子顯微鏡HAXIS,並將於2026年10月5日開始銷售。 HAXIS低角度離子研磨掃描電子顯微鏡 研發背景 隨著先進半導體元件結構不斷縮小並日趨複雜,使用奈米操縱器對微尺度電路進行接觸與量測變得越來越困難。此外,探針接觸可能會影響分析對象,因此需要新的失效分析方法。 JEOL長期致力於被動電壓對比(PVC)偵測技術的研究,並透過探測器與樣品製備技術的進步,建立了一套穩定、高再現性的PVC觀察技術方法。 HAXIS正是JEOL融合上述技術打造的全新半導體失效分析平台。 即便面對先進半導體,HAXIS也能實現清晰、高再現性的PVC觀察。它在盡可能減小加工損傷與污染影響的同時,以視覺化方式檢出電學異常,從而高效定位缺陷位置並判定成因。採用惰性氣體氬氣(Ar)可確保穩定的表面品質,並降低運行成本。 PVC觀察的品質在很大程度上受層次去除(delayering)後樣品表面狀態的影響。HAXIS採用獨一無二的、以氬氣離子束為基礎的低角度離子研磨(L...

JEOL:推出全新桌上型掃描電子顯微鏡「JCM-7000Plus NeoScope™」

東京--(BUSINESS WIRE)--(美國商業資訊)-- JEOL Ltd.(總裁兼執行長:Izumi Oi)開發了桌上型掃描電子顯微鏡(SEM)「JCM-7000Plus」,並將於2026年9月1日開始銷售。 [開發背景] 桌上型掃描電子顯微鏡在電氣和電子、汽車和機械、鋼鐵和金屬、化學和醫藥等領域的應用日益廣泛。它們不僅用於研發,還用於品質控制和產品檢驗等與製造相關的應用。此外,它們也被中學、高中和大學等教育機構採用。鑑於這些多樣化的應用,市場對提高操作效率、實現更為簡易和自動化的操作以及強化觀察、分析和量測效能的需求與日俱增。 為了滿足這些需求,我們將著陸電壓(加快電壓)擴充到了20 kV。這將解析度提高到了6 nm,從而能夠在更高的放大倍率下進行量測。 在軟體方面,新的JCM-7000Plus保留了目前JCM-7000簡單、易於使用的GUI,包括能夠實現從光學影像到SEM觀察順暢轉換的Zeromag,以及允許在觀察期間進行即時元素分析的Live Analysis功能。它還增加了強化的自動化功能Neo Action。 除了現有的三個Live功能(Live Analysis、L...

JEOL:推出雷射掃描式電子顯微鏡系統「LazEdge」

東京--(BUSINESS WIRE)--(美國商業資訊)-- JEOL Ltd.(總裁兼執行長:Izumi Oi)成功研發出配備雷射加工系統的掃描式電子顯微鏡(SEM)系統「LazEdge」,並於2026年5月25日正式上市銷售。 諸如聚焦離子束系統(FIB系統)等截面樣品製備儀器已廣泛應用於科研院所、大學及工業界等科技領域。近年來,市場對能夠進行高速度、大面積加工,同時又能保證高品質加工表面的系統的需求與日俱增。「LazEdge」是將JEOL的SEM與Hamamatsu Photonics K.K.的專有雷射技術相結合的儀器,實現了在電子顯微鏡樣品室內直接進行雷射加工。 該系統透過高速、大面積加工製備出高品質的截面樣品,隨後可在不暴露於外部環境的情況下,順暢切換至後續分析,如SEM觀察、元素分析和晶體方位分析。因此,它能夠滿足廣泛的分析需求,包括金屬樣品分析、需要隔絕空氣的電池分析,以及需要快速製備截面的半導體失效分析。 [主要特點] 樣品室內的高品質截面加工 透過將雷射加工系統集成到SEM中,LazEdge利用能夠對雷射光束進行空間相位調製的專有光學系統,實現了在樣品室內高速進行...
Back to Newsroom