東芝：半導体テスターのテスト時間短縮に貢献するターンオン時間の高速化を実現した小型フォトリレー発売について
東芝：半導体テスターのテスト時間短縮に貢献するターンオン時間の高速化を実現した小型フォトリレー発売について
川崎--(BUSINESS WIRE)--（ビジネスワイヤ） -- 東芝デバイス＆ストレージ株式会社は、半導体テスター向けにターンオン時間を当社既存製品[注1]より高速にしたS-VSON4T[注2]パッケージのフォトリレー「TLP3414S」と「TLP3431S」を製品化しました。新製品の阻止電圧定格とオン電流定格は、TLP3414Sが40V/250mA、TLP3431Sが20V/450mAです。本日から出荷を開始します。
新製品は、入力側の赤外発光ダイオードの光出力向上と、受光素子 (フォトダイオードアレイ) の最適化設計により、光結合効率を高めました。これにより、ターンオン時間を最大150μsに短縮し、高速化を実現しました。TLP3414Sは当社既存製品TLP3414と比べて最大ターンオン時間を約50％、TLP3431Sは当社既存製品TLP3431と比べて約62％短縮しています。
また、出力オン時の信号減衰に影響するオン抵抗 (TLP3414S : 最大値3Ω、TLP3431S : 最大値1.2Ω) と、出力オフ時の高周波信号漏れに影響する端子間容量 (出力側) (TLP3414S、TLP3431Sともに標準値6.5pF) は当社既存製品[注1]と同等で、安定した信号伝達が可能です。
新製品は、テスト対象デバイス (DUT[注3]) を高速に信号切替えしながら精度よく計測する、半導体テスターのピンエレクトロニクス[注4]などに適しています。
パッケージは、小型のS-VSON4Tを採用し、当社既存製品のVSON4パッケージ[注5]と比べて、実装面積を約20%削減しています。これにより、半導体テスターなどの小型化に貢献します。
今後も当社は、半導体テスターの高性能化・高速化に対応した製品を提供していきます。
[注1] VSON4パッケージの当社既存製品TLP3414 (定格40V/250mA)、TLP3431 (定格20V/450mA) |
[注2] S-VSON4Tパッケージ : 1.45×2.0mm (typ.) |
[注3] Device Under Test (DUT) |
[注4] ピンエレクトロニクス (PE) : DUTへの電源やテスト信号の供給、およびDUTからの出力信号判定を行うインターフェース回路。 |
[注5] VSON4パッケージ : 1.45×2.45mm (typ.) |
応用機器
- 半導体テスター (高速メモリーテスター、高速ロジックテスターなど)
- プローブカード
- 計測機器
新製品の主な特長
- 高速ターンオン時間 : tON=150μs (max)
-
低オン抵抗
TLP3414S RON=3Ω (max)
TLP3431S RON=1.2Ω (max) - 小型S-VSON4Tパッケージ : 1.45×2.0mm (typ.)、t=1.3mm (typ.)
新製品の主な仕様
(Ta=25°C) |
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品番 |
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パッケージ |
当社名称 |
S-VSON4T |
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サイズ (mm) |
1.45×2.0 (typ.)、t=1.3 (typ.) |
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接点方式 |
1a (ノーマリーオープン) |
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絶対最大定格 |
阻止電圧 VOFF (V) |
40 |
20 |
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オン電流 ION (mA) |
250 |
450 |
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オン電流 (パルス) IONP (mA) |
750 |
1350 |
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動作温度 Topr (°C) |
-40～110 |
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絶縁耐圧 BVS (Vrms) |
AC、60s、 R.H.≦60% |
500 |
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結合特性 |
トリガーLED電流 IFT (mA) |
Max |
3 |
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オン抵抗 RON (Ω) |
Typ. |
2 |
0.8 |
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Max |
3 |
1.2 |
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電気的特性 |
端子間容量 (出力側) COFF (pF) |
Typ. |
6.5 |
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スイッチング特性 |
ターンオン時間 tON (μs) |
Max |
150[注6] |
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ターンオフ時間 tOFF (μs) |
100[注6] |
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在庫検索 ＆ Web少量購入 |
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[注6] 測定条件 : TLP3414SはRL=200Ω、VDD=20V、IF=5mA、TLP3431SはRL=200Ω、VDD=10V、IF=5mA |
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