史密斯探測推出精簡型CT安檢站X光機

高效節能的HI-SCAN 6040 CTiX Model S旅客安檢掃描機可提高安檢效率，降低營運成本，並以更小的體積實現更高的安全標準

倫敦--(BUSINESS WIRE)--(美國商業資訊)-- (美國商業資訊)--威脅偵測和安全檢查技術的全球領導者史密斯探測(Smiths Detection)今天宣布推出HI-SCAN 6040 CTiX Model S。這是其電腦斷層掃描(CT)旅客安檢站掃描機的小型版本，之前推出的HI-SCAN 6040 CTiX在市場上大獲成功，已成為安保操作人員的首選設備。

新機型比HI-SCAN 6040 CTiX窄20公分，輕350公斤，可輕鬆安裝到新舊機場或關鍵基礎建設的安檢站之中。兩種型號的HI-SCAN 6040 CTiX均可提供產業領先的影像品質，且具有能耗低、帶速高的優勢；帶速可達0.2公尺/秒，比其他CT X光掃描機快30%；同時還具備低噪音、零振動的特點，可改善旅客和安檢人員的安檢體驗。

HI-SCAN 6040 CTiX Model S利用CT X光掃描技術來產生3D體積影像，旅客無需從手提行李中取出電子設備、液體和凝膠物，因此能夠減少托盤數量，加快安檢流程。新推出的Model S同樣擁有前代機型的獲獎操作介面。

HI-SCAN 6040 CTiX Model S可與來自史密斯探測和協力廠商的技術實現順暢整合，支援開發符合開放式架構的解決方案，還可透過史密斯探測的iCMORE自動物品辨識軟體實現進一步增強。該軟體可自動偵測日益擴大的違禁品清單，提升安檢效果和效率。同時，先進的資料安全功能和控制措施可確保客戶的資料和資產得到良好保護，免受網路攻擊。

史密斯探測航空業務全球總監Philo Daniel表示：「市場領先的HI-SCAN 6040 CTiX可提供卓越的旅客行李安檢解決方案，已在全球售出700多台，我們很高興透過此次推出的新品進一步加強公司的產品組合。我們開發的這款安檢掃描機更加精簡，可以適應各種尺寸和佈局受限的安檢站，幫助提高能效，提升安檢流程、安檢效果和旅客體驗。」

HI-SCAN 6040 CTiX Model S已獲得歐洲ECAC EDS CB C3認證，未來還將獲得更多本地認證。

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關於史密斯探測：

史密斯探測(Smiths Detection)是航空、港口和邊境、城市安全和防護等領域的威脅偵測和檢查技術的全球領導者。憑藉70多年的現場偵測經驗，史密斯探測提供必要的解決方案，阻止爆炸物、違禁武器、違禁品、有毒化學品、生物製劑和麻醉品的非法通關，進而保護社會免受其威脅，讓世界更加安全。

如需瞭解更多資訊，請造訪http://www.smithsdetection.com。

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