JEOL: lanciato il microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo Schottky versioni JSM-IT800(i)/(is)

－Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM) con piattaforma a tecnologia intelligente (Intelligence Technology, IT)－

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (Presidente e direttore operativo Izumi Oi) ha annunciato di avere sviluppato versioni per scansioni semi in obiettivo (i)/(is) ottimali per l’osservazione dei dispositivi semiconduttori del microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo Schottky JSM-IT800 (lanciato nel maggio 2020), la cui vendita ha avuto inizio ad agosto 2021.

Scenario dello sviluppo

I microscopi elettronici a scansione (scanning electron microscope, SEM) vengono usati in un’ampia gamma di campi tra cui nanotecnologia, metalli, semiconduttori, ceramiche, medicina e biologia.

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