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JEOL: Rilascio del nuovo microscopio elettronico analitico a forza atomica ad altissima risoluzione JEM-ARM300F2 (GRAND ARM(TM)2)

original JEM-ARM300F2 (Photo: Business Wire)

JEM-ARM300F2 (Photo: Business Wire)

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (Presidente e COO Izumi Oi) annuncia il lancio di un nuovo microscopio elettronico analitico a forza atomica ad altissima risoluzione, il JEM-ARM300F2 (GRAND ARM(TM)2), nel mese di febbraio del 2020.

Informazioni sullo sviluppo del prodotto

Alla Electron Microscopy un gran numero di microscopisti e ingegneri ha continuato a migliorare a risoluzione. Nel frattempo, JEOL ha fatto il possibile per migliorare la stabilità del microscopio elettronico a trasmissione (transmission electron microscope, TEM). Abbinando le tecnologie di correzione delle aberrazioni a tali migliorie, siamo riusciti a ottenere un’altissima risoluzione.

Il JEM-ARM300F (GRAND ARM(TM)) è un TEM a risoluzione atomica focalizzato sul raggiungimento della migliore risoluzione possibile.

Il testo originale del presente annuncio, redatto nella lingua di partenza, è la versione ufficiale che fa fede. Le traduzioni sono offerte unicamente per comodità del lettore e devono rinviare al testo in lingua originale, che è l'unico giuridicamente valido.

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JEOL Ltd.
Divisione vendite strumenti scientifici e di misurazione
Hideya Ueno
+81-3-6262-3567
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

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