-

Rigaku ontwikkelt technologie voor 3D-visualisatie van de atomaire structuur van amorfe koolstof

- Draagt bij aan de ontwikkeling van hoogwaardige materialen voor batterijapparaten en dergelijke -

Kenmerken van de nieuwe technologie

  • De technologie slaagt erin om informatie over de 3D-structuur op atomaire schaal van amorfe koolstof zichtbaar te maken, op basis van de meting van röntgenverstrooiingsgegevens.
  • Door gedetailleerde informatie over de 3D-structuur op atomaire schaal en de interne structuur van amorfe koolstof te verstrekken, wordt met deze technologie de ontwikkeling van materialen eenvoudiger voor de beoogde toepassingen.
  • Met deze methode kunnen 3D-structuren op atomaire schaal van een groot aantal materialen worden gevisualiseerd, zoals kristallijne en amorfe materialen.

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--Het röntgenlaboratorium van Rigaku Corporation, een bedrijf uit de Rigaku Holdings Group en een wereldwijde oplossingspartner voor röntgenanalyse (hoofdkantoor: Akishima, Tokio; president en CEO: Jun Kawakami; “Rigaku”), heeft de Total X-ray Scattering and RMC Modeling-methode (“TXS-RMC”) ontwikkeld.

Deze bekendmaking is officieel geldend in de originele brontaal. Vertalingen zijn slechts als leeshulp bedoeld en moeten worden vergeleken met de tekst in de brontaal, die als enige rechtsgeldig is.

Contacts

Perscontact:
Sawa Himeno
Hoofd communicatieafdeling, Rigaku Holdings Corporation
+81 90 6331 9843
prad@rigaku.co.jp

Rigaku Holdings Corporation



Contacts

Perscontact:
Sawa Himeno
Hoofd communicatieafdeling, Rigaku Holdings Corporation
+81 90 6331 9843
prad@rigaku.co.jp

More News From Rigaku Holdings Corporation

Samenvatting: Rigaku lanceert ONYX 3200, een metrologie-instrument voor halfgeleiderproductie

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--Rigaku Corporation, een wereldwijde partner in röntgenanalytische systemen en een dochteronderneming van Rigaku Holdings Corporation (hoofdkantoor: Akishima, Tokyo; CEO: Jun Kawakami; hierna 'Rigaku'), heeft de lancering aangekondigd van de ONYX 3200, een nieuw metrologiesysteem voor halfgeleiders dat de filmdikte, samenstelling en bump*-structuren meet voor processen op waferniveau. Het systeem is ontworpen om fabrikanten te helpen de kwaliteit te stabiliseren en de opb...

Samenvatting: Rigaku lanceert XTRAIA MF-3400, een meetinstrument voor de volgende generatie halfgeleiders

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--Rigaku Corporation, een wereldwijde partner in röntgenanalysesystemen en een groepsmaatschappij van Rigaku Holdings Corporation (hoofdkantoor: Akishima, Tokio; CEO: Jun Kawakami; hierna 'Rigaku'), heeft de XTRAIA MF-3400 gelanceerd, een instrument dat wordt gebruikt in halfgeleiderproductieprocessen om de dikte en samenstelling van wafers te meten. De XTRAIA MF-3400 zal de productiviteit in de snelgroeiende halfgeleidermarkt aanzienlijk verhogen door een zeer nauwkeurige...

Samenvatting: Rigaku Holdings publiceert geïntegreerd verslag 2025

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--Rigaku Holdings Corporation (hoofdkantoor: Akishima, Tokio; CEO: Jun Kawakami; hierna "Rigaku") heeft zijn eerste Integrated Report 2025 (hierna "het rapport") gepubliceerd op de website van Rigaku. Het rapport dient als medium voor geïntegreerde communicatie met alle belanghebbenden. Het rapport biedt een overzicht van Rigaku's investeringen, technologische innovaties, bedrijfsactiviteiten en wereldwijde groeistrategie. Het presenteert ook Rigaku's financiële en niet-fi...
Back to Newsroom