-

JEOL推出具有卓越性能且易于操作的终极版气相色谱-质谱联用仪:新型气相色谱仪–时差测距质谱仪JMS-T2000GC AccuTOF(TM) GC-Alpha

东京--(BUSINESS WIRE)--(美国商业资讯)-- (美国商业资讯)--JEOL Ltd.(Tokyo:6951)(总裁兼首席运营官:Izumi Oi)宣布,将于2021年2月发布大获成功的AccuTOF(TM) GC系列气相色谱仪–时差测距质谱仪的最新型号——JMS-T2000GC "AccuTOF(TM)GC-Alpha"。该产品是一款气相色谱-质谱联用仪(GC-MS),采用两项新开发的关键技术,在性能和功能上均有显著改善。其基本硬件性能大幅改善,标准配置中带有新一代自动化数据分析软件。

主要特点

两项新型关键技术

关键技术1:新型高性能硬件

JMS-T2000GC "AccuTOF(TM)GC-Alpha"是大获成功的AccuTOF(TM) GC系列的第6代产品,采用全新的离子光学设计,质量分辨力和质量测量精度是之前的AccuTOF(TM) GCx-plus的三倍,具有出色的灵敏度和高数据采集速度,这也是AccuTOF(TM) GC系列的一贯特点。此外,该系统具有较宽的动态范围,不仅有利于定量分析,也有利于复杂混合物的定性分析。

除了标准的电子电离(EI)外,还可以选用场电离(FI)、场解吸(FD)、光电离(PI)和化学电离(CI)等多种电离技术。另外还有EI/FI/FD组合离子源和EI/PI组合离子源两种组合离子源可供选择,可以在不破坏真空或更换离子源的情况下轻松切换电离技术。

关键技术2:操作简单快捷的新一代分析软件(msFineAnalysis)

msFineAnalysis软件是新一代的自动化数据分析软件,它可以将电子电离和软电离(FI、CI或PI)获得的数据以简单、快速和自动化的方式相结合,从而提供定性结果。该软件充分利用JMS-T2000GC "AccuTOF(TM) GC-Alpha"获得的高质量数据,为未知化合物的鉴定提供了一种新的定性分析方法。

新的双样本比较功能提供了火山图(Volcano Plot),可以直观地体现两个样本之间的区别成分。软件在确定是否存在差异之后将对所有成分进行综合分析。该软件还支持GC/EI数据的单独分析。

年度销售目标
50台/年

JMS-T2000GC AccuTOF(TM) GC-Alpha
网址:https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JMS-T2000GC.html

JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan
Izumi Oi,总裁兼首席运营官
(股票代码:6951,东京证券交易所一部)
www.jeol.com

免责声明:本公告之原文版本乃官方授权版本。译文仅供方便了解之用,烦请参照原文,原文版本乃唯一具法律效力之版本。

Contacts

JEOL Ltd.
科学与测量仪器销售部
科学仪器销售推广部
质谱小组
Toshihito YAMAMOTO
+81-3-6262-3575
电子邮箱:toyamamo@jeol.co.jp
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

JEOL Ltd.

TOKYO:6951


Contacts

JEOL Ltd.
科学与测量仪器销售部
科学仪器销售推广部
质谱小组
Toshihito YAMAMOTO
+81-3-6262-3575
电子邮箱:toyamamo@jeol.co.jp
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

More News From JEOL Ltd.

JEOL:HAXIS新品上市:全新低角度离子铣削扫描电子显微镜

东京--(BUSINESS WIRE)--(美国商业资讯)-- JEOL Ltd.(总裁兼首席执行官:Izumi Oi)宣布开发出全新的低角度离子铣削扫描电子显微镜HAXIS,并将于2026年10月5日开始销售。 HAXIS低角度离子铣削扫描电子显微镜 开发背景 随着先进半导体器件结构持续微缩并日趋复杂,使用纳米操纵器对微观电路进行接触与测量变得越来越困难。此外,探针接触可能会影响分析对象,因此需要新的失效分析方法。 JEOL长期致力于被动电压反差(PVC)检测技术的研究,并通过探测器与样品制备技术的进步,建立了一套稳定、高度可重复的PVC观察技术方法。 HAXIS正是JEOL融合上述技术打造的全新半导体失效分析平台。 即便面对先进半导体,HAXIS也能实现清晰且高度可重复的PVC观察。它在尽可能减小加工损伤与污染影响的同时,以可视化方式检出电学异常,从而高效定位缺陷位置并判定成因。采用惰性气体氩(Ar)可确保稳定的表面质量,并降低运行成本。 PVC观察的质量在很大程度上受去层(delayering)后样品表面状态的影响。HAXIS采用独一无二的、基于氩离子束的低角度离子铣削(LIM)...

JEOL:推出全新台式扫描电子显微镜“JCM-7000Plus NeoScope™”

东京--(BUSINESS WIRE)--(美国商业资讯)-- JEOL Ltd.(总裁兼首席执行官:Izumi Oi)开发了台式扫描电子显微镜(SEM)“JCM-7000Plus”,并将于2026年9月1日开始销售。 [开发背景] 台式扫描电子显微镜在电气和电子、汽车和机械、钢铁和金属、化学和医药等领域的应用日益广泛。它们不仅用于研发,还用于质量控制和产品检验等与制造相关的应用。此外,它们也被中学、高中和大学等教育机构采用。鉴于这些多样化的应用,市场对提高操作效率、实现更为简易和自动化的操作以及增强观察、分析和测量性能的需求日益增长。 为了满足这些需求,我们将着陆电压(加速电压)扩展到了20 kV。这将分辨率提高到了6 nm,从而能够在更高的放大倍率下进行测量。 在软件方面,新的JCM-7000Plus保留了当前JCM-7000简单、用户友好的GUI,包括能够实现从光学成像到SEM观察无缝过渡的Zeromag,以及允许在观察期间进行实时元素分析的Live Analysis功能。它还增加了增强的自动化功能Neo Action。 除了现有的三个Live功能(Live Analysis、L...

JEOL:激光扫描电子显微镜系统“LazEdge”正式上市

东京--(BUSINESS WIRE)--(美国商业资讯)-- JEOL Ltd.(社长兼首席执行官:Izumi Oi)已开发出配备激光加工系统的扫描电子显微镜(SEM)系统“LazEdge”,并将于2026年5月25日开始销售。 聚焦离子束系统(FIB系统)等截面制备仪器在科研院所、大学及工业领域的科学技术领域中得到广泛应用。近年来,市场对能够高速加工大面积样品,同时实现高质量加工表面的系统需求日益增长。“LazEdge”是一款将JEOL的扫描电子显微镜(SEM)与Hamamatsu Photonics K.K.的专有激光技术相结合的仪器,可在电子显微镜的样品室内部进行激光加工。 该系统能够将通过高速、大面积加工制备的高质量截面样品,在不接触外部环境的情况下,无缝转移至后续分析环节,例如扫描电子显微镜(SEM)观察、元素分析和晶体取向分析。因此,它能够满足多种分析需求,包括金属样品分析、需要隔绝空气的电池分析,以及需要高速截面制备的半导体失效分析。 [主要特性] 在样品室内进行高质量截面制备 通过将激光加工系统集成到扫描电子显微镜(SEM)中,LazEdge能够利用其专有的光学系统(...
Back to Newsroom