TOKYO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (www.jeol.com) (President & COO Izumi Oi) kondigt de lancering aan van een nieuwe Schottky-veld-emissiescannemicroscoop, JSM-F100, in augustus 2019.
https://www.jeol.co.jp/en/news/detail/20190804.3456.html
Achtergrond
Scannende elektronenmicroscopen (SEM's) worden gebruikt op verschillende gebieden; nanotechnologie, metalen, halfgeleiders, keramiek, geneeskunde en biologie. Met de uitbreiding van toepassingen hebben SEM-gebruikers behoefte aan een snelle en hoogwaardige data-acquisitie en een eenvoudige bevestiging van de samenstelling van de informatie met naadloze werking.
Deze bekendmaking is officieel geldend in de originele brontaal. Vertalingen zijn slechts als leeshulp bedoeld en moeten worden vergeleken met de tekst in de brontaal, die als enige rechtsgeldig is.
