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Rigaku, con il suo metodo di ispezione e misurazione dei difetti nella memoria flash 3D, vince il Diana Nyyssonen Memorial Best Paper Award

- La visualizzazione non distruttiva delle strutture in scala nanometrica avviene tramite un microscopio a raggi X a risoluzione ultra-alta

original From left: Award recipients Kazuhiko Omote, General Manager, X-ray Research Laboratory; and Raita Hirose, Imaging Group, Advanced Analytical Technology Research Department, X-ray Laboratory (Photo: Business Wire)

From left: Award recipients Kazuhiko Omote, General Manager, X-ray Research Laboratory; and Raita Hirose, Imaging Group, Advanced Analytical Technology Research Department, X-ray Laboratory (Photo: Business Wire)

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--Rigaku Corporation, una società del gruppo Rigaku Holdings Corporation (sede: Akishima, Tokyo; amministratore delegato: Jun Kawakami; di seguito denominata "Rigaku"), ha conquistato il Diana Nyyssonen Memorial Best Paper Award (di seguito denominato "il Premio") grazie al suo metodo rivoluzionario e non distruttivo che consente di rilevare eventuali difetti nella memoria flash 3D. La tecnologia di ispezione e misurazione (di seguito denominata "la Tecnologia") utilizza un microscopio a raggi X a risoluzione ultra-alta.

Il premio viene assegnato al team che presenta il paper più interessante nei campi della misurazione, dell'ispezione e del controllo di processo alle conferenze SPIE Advanced Lithography + Patterning.

Il testo originale del presente annuncio, redatto nella lingua di partenza, è la versione ufficiale che fa fede. Le traduzioni sono offerte unicamente per comodità del lettore e devono rinviare al testo in lingua originale, che è l'unico giuridicamente valido.

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Contatto con la stampa:
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Responsabile Ufficio Comunicazioni, Rigaku Holdings Corporation
prad@rigaku.co.jp
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