JEOL：发布新的扫描电子显微镜JSM-IT700HR

SEM –日常实验室操作中的必需品 – JSM-IT700HR使操作变得简单

东京--(BUSINESS WIRE)--(美国商业资讯)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951)（总裁兼首席运营官：Izumi Oi）宣布，将于2020年8月推出新的扫描电子显微镜(SEM) JSM-IT700HR，提供前所未有的高通量。

开发背景

扫描电子显微镜应用于纳米技术、冶金、半导体、陶瓷、医学和生物学等各种领域。此外，SEM的应用范围正在不断扩大，以涵盖质量控制和基础研究。因此，对于更快地采集高质量SEM图像的数据和更轻松地确认组成信息的需求也在不断增长。

JSM-IT700HR基于我们屡获殊荣的“InTouchScope™”系列SEM构建，配备我们的浸没式(in-lens)肖特基(Schottky)场发射电子枪(FEG)。这款功能强大的新型SEM满足日常实验室操作中对进一步小型化材料进行观察和分析的需求。

JSM-IT700HR具有1纳米高分辨率和300 nA的最大探针电流（比以前型号高15倍），提供大量的观察和分析信息。简单易用的用户界面、可容纳大样本室的紧凑设计，以及为主控制台提供新的防振支架，均使观察和分析比以前更加舒适。

为增强“简易操作性”，JSM-IT700HR增加了整合到SEM GUI中的新功能，以显示特征X射线生成深度。这有助于迅速了解样本的分析深度（参考值），这对元素分析十分有用。

提供两种配置：1)用于高真空和低真空图像观察的JSM-IT700HR/LV；2)带有集成JEOL EDS系统的JSM-IT700HR/LA。

特性

1. 浸没式肖特基场发射电子枪有助于高清图像观察和高空间分辨率分析。
2. Zeromag功能可链接Holder Graphics、CCD和SEM图像，使样本导航比以往任何时候都容易。
3. 借助我们的“Analytical系列”（实时分析功能），嵌入式EDS系统可在图像观察期间显示实时EDS光谱，以便进行高效的元素分析。
4. 显示分析深度（特征X射线生成深度）的新功能支持快速元素分析。
5. SMILE VIEW™ Lab可对图像和分析数据进行综合管理，有助于加快生成从收集的SEM图像到元素分析结果的所有数据报告。
6. “Specimen Exchange Navi”可实现安全、简单的样本交换。
7. 借助自动电子束准直(Auto Beam Alignment)功能，电子光学条件始终保持最佳状态。
8. “抽出式交换系统”有助于轻松访问大样本室，该样本室可容纳各种尺寸和类型的样本。

销售目标

130台/年​​（起始年）

网址：https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JSM-IT700HR.html

JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan
Izumi Oi，总裁兼首席运营官
（股票代码：6951，东京证券交易所第一部）
www.jeol.com

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