CyberOptics presentará una metodología probada para identificar y resolver problemas causados por partículas en suspensión en el EMLC 2015

EINDHOVEN, Países Bajos--()--CyberOptics® Corporation (NASDAQ: CYBE), desarrollador y fabricante de soluciones de tecnología de sensores 3D de alta precisión líder en el mundo, estará presente en la 31ª conferencia europea de máscaras y litografía (EMLC en sus siglas en inglés) de 2015, en el hotel Pullman de Eindhoven el 22 y 23 de junio. La conferencia de dos días se centra en la ciencia, tecnología, ingeniería y aplicación de las tecnologías de máscaras y litografía y los procesos relacionados.

Allyn Jackson, ingeniero de aplicaciones de campo en CyberOptics, compartirá sus conocimientos, mejores prácticas y saber hacer técnicos para identificar y resolver partículas en entornos fotolitográficos. La sesión de pósters tendrá lugar el lunes, 22 de junio de 2015 entre las 17:30 y las 18:40 en la sala Winteruin de la exposición técnica.

El comunicado en el idioma original, es la versión oficial y autorizada del mismo. La traducción es solamente un medio de ayuda y deberá ser comparada con el texto en idioma original, que es la única versión del texto que tendrá validez legal.

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Lisa Grau, 760-207-9090
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CyberOptics
Carla Pihowich, 952-229-4240
cpihowich@cyberoptics.com

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