JEOL:推出新款Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810

- 利用自動化技術提高了從儀器調整到觀察和分析的操作效率 -

Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810 (照片:美國商業資訊)

東京--()--(美國商業資訊)-- JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(總裁兼執行長:Izumi Oi)宣佈將於2024年7月28日發佈新款Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810。
場發射掃描電子顯微鏡(FESEM)廣泛應用於科研機構、大學和工業等科技領域。人們越來越需要一種從觀察到分析都可以輕鬆、準確、快速、高效使用的儀器。
JSM-IT810在JSM-IT800的基礎上增加了「Neo Action」自動觀察和分析功能以及自動校準功能,並配備了新一代電子光學控制系統「Neo Engine」和「SEM Center」,實現了Zeromag和EDS整合等高操作性,不僅可以提高效率和生產力,還有助於解決勞動力短缺問題。

主要功能

1. 自動觀察和分析功能「Neo Action」
您只需選擇SEM影像擷取條件和視場,該功能就會自動執行SEM觀察和EDS(能量色散X射線光譜)分析。
該功能有助於提高日常工作(包括分析工作)的效率。

2. 自動校準功能「SEM Automatic Adjustment Package」
該功能可自動執行校準調整、放大率調整和EDS能量校準中的選定項目。

3.「Live Function」
該功能具有「即時3D」、「即時分析」和「即時地圖」功能。在進行SEM觀察的同時,可現場構建3D影像,以獲取凹凸和深度資訊。此外,它還有助於始終顯示特徵X射線光譜和元素映射。

4. EDS 整合
SEM觀察和EDS分析整合在一起。可以從觀察螢幕執行點、區域和MAP的分析。結合無窗EDS-Gather-X可以實現從Li中進行檢測,並以高靈敏度和高空間解析度進行分析。

年度設備銷售目標

220台設備/年

相關連結

產品咨詢:Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810
https://www.jeol.com/products/scientific/sem/JSM-IT810.php

JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan
總裁兼執行長Izumi Oi
(股票代碼:6951,東京證券交易所主要市場板塊)
www.jeol.com

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聯絡人

JEOL Ltd.
科學與測量儀器銷售部
電話:+81-3-6262-3567
https://www.jeol.com/contacts/products.php

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