JEOL: lanzamiento del nuevo microscopio electrónico JSM-F100 de barrido de emisión de campo tipo Schottky

― El siguiente nivel de inteligencia analítica en microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo (FE-SEM) que combinan operatividad y una alta resolución ―

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (www.jeol.com) (presidente y director de operaciones: Izumi Oi) anuncia el lanzamiento del nuevo microscopio electrónico de barrido de emisión de campo tipo Schottky, JSM-F100, en agosto de 2019.

https://www.jeol.co.jp/en/news/detail/20190804.3456.html

Antecedentes

Los microscopios electrónicos de barrido (Scanning electron microscop, SEM) se utilizan en una variedad de campos: nanotecnología, metales, semiconductores, cerámica, medicina y biología. Con la expansión de su uso, los usuarios de los SEM necesitan una adquisición de datos rápida y de alta calidad, y una confirmación simple de la información de composición que funcione a la perfección.

El JSM-F100 incorpora nuestro distinguido cañón electrónico de emisión de campo de Schottky Plus dentro del lente y un “motor NEO” (un sistema de control óptico de electrones), así como el “centro de SEM” con una nueva interfaz gráfica de usuario y un innovador filtro de IA-EN TIEMPO REAL “LIVE-AI” (inteligencia artificial-potenciador gráfico de imágenes en tiempo real). Esto permite una combinación óptima de operatividad e imágenes de alta resolución espacial. Además, un espectrómetro estándar de rayos-X por energía dispersiva (energy dispersive X-ray spectrometer, EDS) de JEOL se encuentra completamente integrado con el “centro de SEM” para ofrecer una adquisición impecable de imágenes hasta resultados de análisis de elementos. El JSM-F100 logra una eficiencia de trabajo superior, que es 50 % mejor o más que nuestra serie JSM-7000 anterior, que se traduce en un aumento drástico en el rendimiento.

Características

1. Cañón electrónico de emisión de campo de Schottky Plus dentro del lente
   Mejor integración del cañón electrónico y lentes condensadoras de baja aberración que ofrecen más luminosidad. La abundante corriente del sensor con tensiones bajas de aceleración permite varias posibilidades, desde imágenes de alta resolución a determinación de elementos a alta velocidad.
2. Lente híbrida (HL)
   La lente híbrida (Hybrid Lens, HL), que combina las lentes electrostáticas y de campo magnético, permite imágenes de alta resolución espacial y el análisis de varias muestras.
3. Motor NEO (nuevo motor óptico de electrones)
   El motor NEO, un sistema de control óptico electrónico de vanguardia, mejora significativamente la operatividad y la precisión de funciones automáticas.
4. Nueva función: “Centro de SEM”
   Un “Centro de SEM” con una nueva interfaz gráfica de operación para los usuarios integra completamente las imágenes de los SEM y los análisis de los EDS, al tiempo que ofrece una operatividad de próxima generación e imágenes de alta resolución obtenidas a través de microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo (FE-SEM).
5. Nueva función “Zeromag”
   “Zeromag”, incorporada para una transición perfecta de imágenes ópticas a imágenes de SEM, facilita la localización de áreas de la muestra objetivo.
6. Nuevo filtro IA-EN TIEMPO REAL*
   A través de funciones de IA (inteligencia artificial), se incorpora el filtro IA-EN TIEMPO REAL para obtener imágenes de mayor calidad en tiempo real. A diferencia del procesamiento de la integración de imágenes, este nuevo filtro muestra una imagen impecable en tiempo real y en movimiento sin imagen residual, y es muy efectivo para buscar áreas de observación, enfocar y ajustar el stigmator rápidamente.
   *opcional

Especificaciones
Resolución (1 kV)	1,3 nm
Resolución (20 kV)	0,9 nm
Tensión de aceleración	De 0,01 a 30 kV
Detectores estándares	Detector electrónico superior (DES), Detector electrónico secundario (DES)
Cañón electrónico	Cañón electrónico de emisión de campo de Schottky Plus dentro del lente
Corriente del sensor	Algunos pA a 300 nA (30 kV) Algunos pA a 100 nA (5 kV)
Lente del objetivo	Lente híbrida (HL)
Sección para muestras	Sección para goniómetro eucéntrico total
Movimiento de muestra	X: 70 mm, Y: 50 mm, Z: de 2 a 41 mm Inclinación: de –5 a 70°, Rotación: 360°
Detector de EDS	Resolución energética: 133 eV o menos Elementos detectables: B (boro) a U (uranio) Área de detección: 60 mm^2

Venta de unidades prevista por año

60 unidades/año

JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokio, 196-8558, Japón
Izumi Oi, presidente y director ejecutivo
(Código de acciones: 6951, primera sección de la Bolsa de Valores de Tokio)
www.jeol.com

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